[发明专利]距离测定装置有效
申请号: | 201210230032.1 | 申请日: | 2012-07-04 |
公开(公告)号: | CN102866404A | 公开(公告)日: | 2013-01-09 |
发明(设计)人: | 大室仁 | 申请(专利权)人: | 株式会社尼康美景 |
主分类号: | G01S17/08 | 分类号: | G01S17/08 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 周春燕;陈海红 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 距离 测定 装置 | ||
1.一种距离测定装置,其特征在于,具备:
发光部,其朝向被测定物出射测定光;
受光部,其对从前述被测定物反射的反射光进行受光;
距离计算部,其基于从出射前述测定光时起到前述反射光的受光水平表示峰值的时刻为止的经过时间,求取到前述被测定物的距离;以及
距离修正部,其在前述受光水平成为饱和状态、前述峰值的时刻不能够确定时,根据前述受光水平饱和的时间的长度修正到前述被测定物的距离的值。
2.根据权利要求1所述的距离测定装置,其特征在于:
前述发光部,多次出射前述测定光。
3.根据权利要求2所述的距离测定装置,其特征在于:
前述距离计算部进一步具备计数部,在多次出射前述测定光时,所述计数部对前述受光部计测到超过阈值的受光量的时刻分别进行计数,累计所计数的频数而求取各时刻下的前述受光水平;
前述距离计算部,基于前述频数的累计数表示峰值的时刻下的经过时间求取到前述被测定物的距离;
前述距离修正部,在前述频数的累计数成为饱和状态的时刻,根据成为前述饱和状态的时间的长度修正到前述被测定物的距离的值。
4.根据权利要求1~3中任一项所述的距离测定装置,其特征在于:
前述受光水平饱和的时间越长,前述距离修正部越增加对前述距离的值进行修正的修正量。
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