[发明专利]光拾取装置无效
申请号: | 201210227119.3 | 申请日: | 2012-06-29 |
公开(公告)号: | CN102855893A | 公开(公告)日: | 2013-01-02 |
发明(设计)人: | 尾形正人;吉江将之 | 申请(专利权)人: | 三洋电机株式会社;三洋光学设计株式会社 |
主分类号: | G11B7/13 | 分类号: | G11B7/13;G11B7/09 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 拾取 装置 | ||
技术领域
本发明涉及一种光拾取装置,特别适于在对层叠多个记录层而成的记录介质照射激光时使用。
背景技术
近年来,随着光盘的大容量化,正在推进记录层的多层化。通过使一张盘内包含多个记录层,能够显著提高盘的数据容量。在层叠记录层时,以往较为普遍的是单面双层,但是最近为了进一步推进大容量化,单面配置三层以上记录层的盘也被实用化。在此,当使记录层的层叠数增加时,能够促进盘的大容量化。但是,另一方面,记录层之间的间隔变窄,层间串扰所引起的信号劣化增大。
当使记录层多层化时,来自作为记录和再现对象的记录层(目标记录层)的反射光变微弱。因此,担心有如下问题:当无用的反射光(杂散光)从位于目标记录层上下的记录层入射到光检测器时,检测信号劣化,从而对聚焦伺服和循迹伺服产生不良影响。因而,在像这样配置多个记录层的情况下,需要适当地去除杂散光以使来自光检测器的信号稳定。
在下面的专利文献1中,示出了一种在配置了多个记录层的情况下能够适当地去除杂散光的光拾取装置的新结构。根据该结构,能够在光检测器的受光面上形成只有信号光存在的方形区域(信号光区域)。来自记录介质的反射光被照射到信号光区域的顶角附近。通过在信号光区域的顶角附近配置光检测器的传感器来能够抑制杂散光对检测信号的影响。
专利文献1:日本特开2009-211770号公报
发明内容
发明要解决的问题
在上述光拾取装置中,为了使信号光照射到信号光区域,使用了改变来自盘的反射光的前进方向的角度调整元件,另外,传感器被设定为能够充分包含信号光的大小。然而,若想要用廉价的台阶型衍射图案构成所述角度调整元件来使通过衍射作用产生的+1级衍射光照射到信号光区域,则不使用的-1级衍射光有可能会落在传感器上。另外,在这种情况下,+1级衍射光的杂散光与-1级衍射光的杂散光会相互重叠而发生干涉,由此产生的干涉条纹有可能会漏入传感器。
本发明是鉴于这种问题而完成的,其目的在于提供一种能够顺利地抑制杂散光所带来的影响、并且将成本抑制得较低的光拾取装置。
用于解决问题的方案
本发明的主要方式涉及一种光拾取装置。该方式所涉及的光拾取装置具备:激光光源;物镜,其使从上述激光光源射出的激光会聚到记录介质上;像散元件,被上述记录介质反射的上述激光入射到该像散元件,并且,该像散元件使上述激光向第一方向会聚来形成第一焦线,并且使上述激光向垂直于上述第一方向的第二方向会聚来形成第二焦线;光检测器,其接收通过了上述像散元件的上述激光;以及分光元件(分光素子),被上述记录介质反射的上述激光入射到该分光元件,并且,该分光元件将入射到两个第一区域和两个第二区域的上述激光分别引导至上述光检测器的受光面上的不同的四个位置。在此,上述光检测器具有配置于上述四个位置处的多个传感器,在使与上述第一方向和上述第二方向分别平行且相交叉的两条直线的交点位于上述激光的光轴时,上述两个第一区域被配置在由上述两条直线作出的一组对顶角所排列的方向上,上述两个第二区域被配置在另一组对顶角所排列的方向上。上述分光元件对分别入射到上述两个第一区域的上述激光赋予方向相同且大小互不相同的分光作用,对分别入射到上述两个第二区域的上述激光赋予方向相同且大小互不相同的分光作用。
发明的效果
根据本发明,能够提供一种能够顺利地抑制杂散光所带来的影响、并且能够将成本抑制得较低的光拾取装置。
通过下面示出的实施方式的说明来进一步明确本发明的效果乃至意义。但是,下面的实施方式只不过是实施本发明时的一个例示,本发明不受下面的实施方式的任何限制。
附图说明
图1是说明实施方式所涉及的技术原理(激光的会聚状态)的图,(a)表示激光的会聚状态,(b)表示变形透镜的结构。
图2是说明实施方式所涉及的技术原理(光束区域的分布状态)的图,(a)表示光束分割图案,(b)表示信号光的分布状态,(c)表示杂散光1的分布状态,(d)表示杂散光2的分布状态。
图3是说明实施方式所涉及的技术原理(信号光与杂散光的分布状态)的图,(a)表示光束区域f1的各光的分布,(b)表示光束区域f2的各光的分布,(c)表示光束区域f3的各光的分布,(d)表示光束区域f4的各光的分布。
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