[发明专利]一种液晶显示面板检测装置

说明书

技术领域

本发明涉及液晶显示技术领域，尤其涉及一种液晶显示面板检测装置。

背景技术

在液晶显示技术领域，液晶显示器件的不良现象经常发生，不良现象多种多样。减少不良的发生，提高产品的良品率，从而节约成本是每个厂家一直追求的目标。

在TFT-LCD制造过程中，液晶显示器件产生不良的现象是不可以避免的。所述不良主要分两大类别：光学不良和电学不良。光学不良产生的因素包括：液晶、金属电极、绝缘层、取向层和封框胶等出现问题，并且以上任何一个因素都会导致如水平黑线、白线、黑点等光学不良。电学不良产生的因素主要是阵列工艺上的各种缺陷，如电路线短路、断路或存在污渍颗粒等现象。

相应地，在制作产品的过程中，有光学检测设备和电学检测设备，液晶显示面板的不良可以通过光学检测设备和电学检测设备检测相应的不良现象，如通过光学检测设备检测液晶是否具有缺陷、或通过电学检测设备检测TFT是否有坏损的情况。

现有技术检测液晶显示面板是否存在光学不良的方法为，通过光学对位，将与数据线对应的探针和与扫描线对应的探针分别精确接触液晶显示面板的信号输入端口，当给液晶显示面板施加信号电压时，实现画面的显示，从而检测液晶显示面板上是否存在不良。但是现有的不良检测设备，只能在一张较大的玻璃基板经切割工艺之后，针对每一个经切割工艺后得到的面板去测量，但是存在以下缺陷：

第一、工程不良反馈时间较长，只有在制作出大量的包括有多个面板的玻璃基板后，并对每一张玻璃基板进行切割得到液晶显示面板，才能测量面板的不良，无法同时针对一张玻璃基板上的所有面板进行测量。当某一不良存在一张玻璃基板上的所有面板中时，一一测试面板的不良，明显带来较大的工作量。并且，现有无法在切割工艺之前反应面板的不良，会导致产品的报废率较高。

第二、检测出的不良无法判断是电学不良还是光学不良。在不良分析的过程中，如果能够准确识别不良属于电学不良还是光学不良，可以帮助工程师更快速地定位不良的原因。

第三、检测设备的工作精度要求很高。例如，检测过程中，调整Block的位置，使Block的Blade与Panel Pad部位置一一对应，对设备移动需要精确到1um。

第四、检测设备必须使用印刷电路板,低压差分信号线，信号发生器，探针单元等硬件。

第五、当液晶显示器件的型号发生改变时，必须更换印刷电路板，低压差分信号线探针单元等硬件设备。即每个尺寸的液晶盒需要相应的一套检测设备，检测设备的成本较高。

综上，现有技术检测面板的不良现象的效率太低，目前还没有一种检测设备，能够在液晶显示面板切割工艺之前就能够检测产品的某些电学不良或光学不良，也没有针对所有规格的产品通用的检测设备。

发明内容

本发明实施例提供一种液晶显示面板检测装置，用以及时高效地检测出面板的不良现象。

为了实现上述目的，本发明提供的液晶显示面板检测装置，包括：

底座；

第一透明基板，位于所述底座上垂直于底座放置；

第二基板，位于所述底座上垂直于底座放置，且与所述第一透明基板相对平行放置，其中，所述第一透明基板和第二基板之间的垂直距离不小于被检测的液晶显示面板的厚度；

第一透明金属膜层，形成在所述第一透明基板上；

第二金属膜层，形成在所述第二基板上；

为第一透明金属膜层和第二金属膜层提供电压信号的信号发生器，与所述第一透明金属膜层和第二金属膜层电连接；

为被检测的液晶显示面板提供背光的背光源。

本发明通过将待检测物（包含有多个液晶显示面板的玻璃基板）放置于所述第一透明基板和第二基板之间，通过信号发生器为位于第一透明基板上的第一透明金属膜层和位于第二基板上的第二金属膜层施加电压信号，以及通过背光源为液晶显示面板提供光源，实现不同灰阶图像的显示，测试切割之前的液晶显示面板的不良现象。提高检测液晶显示面板不良的效率。

附图说明

图1为本发明实施例提供的液晶显示面板检测装置结构侧视示意图；

图2为本发明实施例提供的液晶显示面板检测装置结构正视示意图；

图3为本发明实施例提供的另一液晶显示面板检测装置结构侧视示意图；

图4为本发明实施例提供的另一液晶显示面板检测装置结构正视示意图；

图5为本发明实施例提供的液晶显示面板上不良的形状和区域示意图。

具体实施方式