[发明专利]信号相位差测量的方法无效
申请号: | 201210226187.8 | 申请日: | 2012-06-29 |
公开(公告)号: | CN102735937A | 公开(公告)日: | 2012-10-17 |
发明(设计)人: | 龚国良;鲁华祥;边昳;金敏;陈天翔 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | G01R25/00 | 分类号: | G01R25/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 宋焰琴 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 信号 相位差 测量 方法 | ||
1.一种信号相位差测量的方法,包括:
步骤A,由1维被测信号与两个1维标准正弦参考信号组成3维的观测信号矩阵X(n),其中,被测信号包含单频正弦测试信号及噪声信号;
步骤B,对所述观测信号矩阵X(n)运行第一次寻优迭代运算,得到3×3的分离矩阵W1及3维的源分量矩阵S(n),其中,源分量矩阵S(n)的3个源分量分别是:噪声分量Ig(n)、正弦分量sin(n)及余弦分量cos(n);
步骤C,判断所述源分量矩阵S(n)中噪声分量Ig(n)的所在行k;
步骤D:当k=1时,执行步骤G;
步骤G:在混合矩阵A中选择两元素α,β,与所述源分量矩阵中的正弦分量和余弦分量进行线性加乘,从而获得被测信号中的所述单频正弦测试信号,其中,所述混合矩阵A为所述分离矩阵的逆矩阵;以及
步骤H,由获得的所述单频正弦测试信号进行相位差测量。
2.根据权利要求1所述的信号相位差测量方法,其中,所述步骤A中,所述两个1维标准正弦参考信号为:
两个不同初始相位的标准正弦参考信号,或
被测信号分别减去该两个不同初始相位的标准正弦参考信号得到的信号。
3.根据权利要求2所述的信号相位差测量方法,其中,所述被测信号和两个1维标准正弦参考信号的采样率相同,采样周期相同。
4.根据权利要求1所述的信号相位差测量方法,其中,所述步骤B中,所述分离矩阵W1的初始值由随机数产生。
5.根据权利要求1所述的信号相位差测量方法,其中,所述步骤C包括:
采用频率、分布或周期的方式判断正弦分量sin(n)及余弦分量cos(n),所述源分量矩阵S(n)中,正弦分量sin(n)及余弦分量cos(n)的频率相同;
源分量矩阵S(n)中除正弦分量sin(n)及余弦分量cos(n)的另一分量为噪声分量Ig(n)。
6.根据权利要求1所述的信号相位差测量方法,其中:
所述步骤D还包括:当k≠1时,执行步骤E;
步骤E:将所述分离矩阵W1的第1行与第k行交换来更新W1;
步骤F:将更新后的分离矩阵W1作为分离矩阵初始值,对观测信号矩阵X(n)进行第二次寻优迭代运算,得到分离矩阵W2和3维的源分量矩阵S′(n),以W2和S′(n)分别更新分离矩阵及源分量矩阵,执行步骤G。
7.根据权利要求6所述的信号相位差测量方法,其中,所述第一次寻优迭代运算及第二次寻优迭代运算退出的条件均为:前、后两次迭代运算后的分离矩阵各行向量之差的模不超过预设参数t。
8.根据权利要求7所述的信号相位差测量方法,其中,所述t≤0.0001。
9.根据权利要求1所述的信号相位差测量方法,其中,所述步骤G中,采用以下公式恢复被测信号中的单频正弦测试信号:
g(n)=αsin(n)+βcos(n)
其中,α=aik,β=ail,aik与ail表示所述混合矩阵A第i行k列的元素和第i行l列的元素,所述k、和l分别为源分量矩阵中正弦分量sin(n)和余弦分量cos(n)所在的行,i为观测信号矩阵中被测信号所在的行。
10.根据权利要求1所述的信号相位差测量方法,其中,所述步骤H由获得的所述单频正弦测试信号进行相位差测量包括:
与所述两个标准正弦参考信号之外的另一标准正弦信号相比,获得两者的信号相位差,其中,所述另一标准正弦信号与所述两个1维标准正弦参考信号频率相同,相位不同或相同。
11.根据权利要求1至10中任一项所述的信号相位差测量方法,其中,所述寻优迭代运算为FastICA迭代运算或核ICA运算。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院半导体研究所,未经中国科学院半导体研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210226187.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种多功能塑料砧板
- 下一篇:料理机以及用于料理机的机头组件