[发明专利]控制装置及控制方法

说明书

本申请是申请日为2009年10月16日、申请号为200910179996.6、发明名称为“控制装置及控制方法”的发明专利申请的分案申请。

技术领域

本发明涉及一种用于控制X射线照射区域的控制装置及控制方法。

背景技术

近年来，在医疗用的X射线摄像领域中，随着数字技术的发展，使用各种方法的数字X射线摄像装置得到普及。这种装置的示例有计算机放射摄影(CR，Computed Radiography)装置，其在光激励荧光体上形成X射线强度分布的潜像，通过激光扫描该光激励荧光体激发该潜像，并由光电倍增管读取所生成的荧光光谱。

此外，已开发出数字X射线摄像装置，其通过使用平板检测器(FPD，Flat Panel Detector)，不必经过光学系统而直接将X射线图像数字化。FPD是一种X射线平面检测设备，在其中，荧光体被紧密附着在大表面积的非晶硅(a-Si)传感器上。此外，也已开发出这样的FPD，其通过使用非晶硒(a-Se)、砷化镓(GaAs)、碲化镉(CdTe)、碘化铅(PbI2)及碘化汞(HgI2)进行的直接光电转换，将X射线转换为电子。

然而，在使用这种FPD的数字X射线摄像装置中，由于各光电转换元件的敏感度的不均匀性以及读取电路中的增益的不均匀性，一般执行校准来校正传感器的特性(以下称为“增益校正”)。

术语“校准”是指通过用均一的X射线大致照射整个传感器表面并执行摄像，来获取校正数据(以下将该校正数据称为“校准数据”)。此外，通过将实际所捕获的被摄者(对象)的图像(以下将该图像称为“捕获图像”)除以校准数据(或对数转换然后相减)，来执行增益校正。

然而，在以上校准中，当未获取到合适的校准数据时，可能无法正确地执行增益校正。例如，当X射线照射区域在校准期间被限制到窄于整个传感器表面的区域时，在一部分校准数据区域处，无法获得用X射线大致均匀地照射的数据。因此，在相应捕获图像的一部分区域处，无法正确地执行增益校正。此外，当校准期间在X射线管与传感器之间存在某种异物时，在校准数据中包含异物的阴影。因此，在捕获图像的一部分区域处，同样无法正确地执行增益校正。

已经提出各种建议作为解决这类问题的方法。例如，日本专利申请特开第2000-070261号公报论述了这样一种方法，即从校准数据中检测X射线照射区域，并在未对整个传感器表面进行X射线照射时发出警告。在这种方法中，可以通过发出警告来明确地向操作者通知X射线照射区域不合适的事实，并提示操作者获取合适的校准数据。

日本专利申请特开昭63-18172号公报论述了这样一种方法，即在校准期间检测头部的位置，并在头部位于X射线管与传感器之间时自动避开头部。在这种方法中，可以避免校准数据中包含作为异物的头部的阴影，并且可以获取到合适的校准数据。

日本专利申请特开第2001-351091号公报论述了这样一种方法，即在校准期间多次执行图像的捕获，从所获取的多个数据中检查剂量、照射区域以及是否包含了异物，并将这些结果通知给操作者。在这种方法中，可以明确地向操作者通知剂量、照射区域以及是否不包含有异物，并且可以提示操作者获取合适的校准数据。

当执行以上校准时，存在因某些原因而无法用X射线对整个传感器表面进行照射的情况。例如，X射线管与传感器之间可能无法获得足够的距离，或者由于设计限制，X射线管与传感器之间存在的异物可能会遮蔽传感器的周边部分。

在这类情况下，很难获取到合适的校准数据。因此，即使在有警告的情况下，操作者也可能照常开始摄像。因此，当在这种情况下对被摄者进行摄像时，存在对捕获图像的一部分区域不能正确地执行增益校正的无效区域。然而，在传统的方法当中，没有一种方法能使操作者预先确认捕获图像中的这种无效区域。因此，可能在操作者没意识到用于诊断的关注区域包含在该无效区域中的情况下执行了摄像。此外，从保护被摄者免受暴露的观点来看，可能会有虽然存在无效区域、但仍用X射线照射整个传感器表面来对被摄者进行摄像的问题。

发明内容

根据本发明的一个方面，提供一种用于控制准直器的控制装置，所述准直器被构造为限制由X射线生成装置生成的X射线的区域，所述控制装置包括：操作单元，被操作者用以输入所述准直器的光圈量；获取单元，被构造为获取与传感器的有效区域有关的信息；以及控制单元，被构造为在第一模式被选择的情况下，基于由所述获取单元获取的所述有效区域来控制所述准直器，而在第二模式被选择的情况下，根据所述操作单元的操作来控制所述准直器。