[发明专利]电压控制电路有效
| 申请号: | 201210213792.1 | 申请日: | 2012-06-25 | 
| 公开(公告)号: | CN102841626A | 公开(公告)日: | 2012-12-26 | 
| 发明(设计)人: | 李勇明;韩子非 | 申请(专利权)人: | 普诚科技股份有限公司 | 
| 主分类号: | G05F1/56 | 分类号: | G05F1/56 | 
| 代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 | 
| 地址: | 中国台湾台北县*** | 国省代码: | 中国台湾;71 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 电压 控制电路 | ||
1.一种电压控制电路,其特征在于,包含:
一增益放大模块,根据一输入信号产生一放大信号;
一电压钳制模块,耦合于该增益放大模块,钳制该放大信号的电位于一预定范围内,以产生一电压钳制信号;及
一增益控制模块,耦合于该电压钳制模块,用来根据一选择信号及该电压钳制信号,产生一输出信号。
2.根据权利要求1所述的电压控制电路,其特征在于,该电压钳制模块包含:
一电容,其一第一端耦接于该增益放大模块,以接收该放大信号;及
一上限电压钳制模块,其一端耦接于该电容的一第二端,以使该放大信号的电位受限于一上限电位。
3.根据权利要求2所述的电压控制电路,其特征在于,该上限电压钳制模块包含:
一P型金属氧化物半导体晶体管,其栅极耦接于一电压源,该P型金属氧化物半导体晶体管的源极耦接于该电容的该第二端,且该电压源提供该上限电位;
一第一N型金属氧化物半导体晶体管,其漏极耦接于该P型金属氧化物半导体晶体管的漏极及该第一N型金属氧化物半导体晶体管的栅极,且该第一N型金属氧化物半导体晶体管的源极接地;
一第二N型金属氧化物半导体晶体管,其栅极耦接于该第一N型金属氧化物半导体晶体管的栅极,该第二N型金属氧化物半导体晶体管的源极接地,且该第二N型金属氧化物半导体晶体管的漏极耦接于该P型金属氧化物半导体晶体管的源极;及
一电阻,其一第一端耦接于该第一N型金属氧化物半导体晶体管的栅极,且该电阻的一第二端接地。
4.根据权利要求2所述的电压控制电路,其特征在于,该上限电压钳制模块包含:
一pnp型双载流子接面晶体管,其栅极耦接于一电压源,该pnp型双载流子接面晶体管的射极耦接于该电容的该第二端,且该电压源提供该上限电位;
一第一npn型双载流子接面晶体管,其集极耦接于该pnp型双载流子接面晶体管的集极及该第一npn型双载流子接面晶体管的基极,且该第一npn型双载流子接面晶体管的射极接地;
一第二npn型双载流子接面晶体管,其基极耦接于该第一npn型双载流子接面晶体管的基极,该第二npn型双载流子接面晶体管的射极接地,且该第二npn型双载流子接面晶体管的集极耦接于该pnp型双载流子接面晶体管的射极;及
一电阻,其一第一端耦接于该第一npn型双载流子接面晶体管的基极,且该电阻的一第二端接地。
5.根据权利要求2所述的电压控制电路,其特征在于,该上限电压钳制模块包含:
一第一P型金属氧化物半导体晶体管,其漏极耦接于该第一P型金属氧化物半导体晶体管的栅极并接地;
一第二P型金属氧化物半导体晶体管,其漏极接地,且该第二P型金属氧化物半导体晶体管的栅极耦接于该第一P型金属氧化物半导体晶体管的栅极;
一第一N型金属氧化物半导体晶体管,其源极耦接于该第一P型金属氧化物半导体晶体管的源极,该第一N型金属氧化物半导体晶体管的栅极耦接于该电容的该第二端,且该第一N型金属氧化物半导体晶体管的漏极接地;
一第二N型金属氧化物半导体晶体管,其源极耦接于该第二P型金属氧化物半导体晶体管的源极,该第二N型金属氧化物半导体晶体管的漏极接地,且该第二N型金属氧化物半导体晶体管的栅极耦接于一第三电压源,其中该第三电压源提供该上限电位;及
一第三P型金属氧化物半导体晶体管,其栅极耦接于该第二P型金属氧化物半导体晶体管的漏极,该第三P型金属氧化物半导体晶体管的源极耦接于该电容的该第二端,且该第三P型金属氧化物半导体晶体管的漏极接地。
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