[发明专利]大功率发射源主波束照射下抛物面天线耦合电平数值仿真的校模方法有效
申请号: | 201210212808.7 | 申请日: | 2012-06-26 |
公开(公告)号: | CN102749538A | 公开(公告)日: | 2012-10-24 |
发明(设计)人: | 谢大刚;吴楠;温定娥;王春;张炜;黄明亮 | 申请(专利权)人: | 中国舰船研究设计中心 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R19/00 |
代理公司: | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 | 代理人: | 胡建平;周艳红 |
地址: | 430064 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 大功率 发射 波束 照射 抛物面天线 耦合 电平 数值 仿真 方法 | ||
1.一种大功率发射源主波束照射下抛物面天线耦合电平数值仿真的校模方法,其特征在于:首先根据抛物面天线口径场和耦合电平的测试值,获得耦合电平仿真模型的修正系数Q;然后利用修正系数Q对抛物面天线的耦合电平仿真值V仿进行修正,修正后的耦合电平V修=V仿-Q。
2.根据权利要求1所述的大功率发射源主波束照射下抛物面天线耦合电平数值仿真的校模方法,其特征在于,所述修正系数的获得包括如下步骤:
1)利用大功率发射源、抛物面天线和测试天线组成测试模型;
2)调整大功率发射源和抛物面天线的位置,使二者主波束对准;将测试天线架设于抛物面天线的中心等高处,并使测试天线与大功率发射源主波束对准且极化匹配;测试天线的射频输出端接入频谱分析仪;
3)大功率发射源以频率f定波束发射,通过测试天线测得抛物面天线的口径场E(f);
4)将测试天线移走,使大功率发射源和抛物面天线主波束对准且极化匹配;抛物面天线的射频输出端接入频谱分析仪;
5)大功率发射源以频率f定波束发射,测得抛物面天线的耦合电平V(F);
6)根据式Q(f)=E(f)-V(f)+12.8+10lgR+G-20lgf,计算出修正系数Q(F),式中,G为抛物面天线增益,单位为dB;E(f)的单位为dBV/m,V(f)的单位为dBV,R为终端负载的阻抗,单位为Ω,频率f的单位为MHz。
3.根据权利要求1或2所述的大功率发射源主波束照射下抛物面天线耦合电平数值仿真的校模方法,其特征在于,所述抛物面天线的耦合电平仿真值的计算方法为:首先,分别建立大功率发射源和抛物面天线的仿真模型;然后计算抛物面天线不存在时大功率发射源的口径场;最后去掉大功率发射源,以上述口径场作为等效源,导入抛物面天线的仿真模型,计算得到抛物面天线的耦合电平V仿。
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