[发明专利]液晶显示器及其检测方法有效

专利信息
申请号: 201210212191.9 申请日: 2012-06-26
公开(公告)号: CN103513477B 公开(公告)日: 2018-03-09
发明(设计)人: 王引战 申请(专利权)人: 富泰华工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G02F1/1362 分类号: G02F1/1362;G02F1/13
代理公司: 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司44334 代理人: 陈海云
地址: 518109 广东省深圳市宝安区观澜街道大三社*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 液晶显示器 及其 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种液晶显示器,其包括液晶显示面板与驱动电路,该液晶显示面板在该驱动电路的驱动下显示图像,该液晶显示面板包括多条扫描线、多条与该扫描线绝缘相交的数据线,该多条扫描线与该多条数据线定义的像素单元;该驱动电路包括控制单元、扫描驱动电路、数据驱动电路,该扫描驱动电路用于施加扫描脉冲至该多条扫描线,该数据驱动电路用于施加测试脉冲至该多条数据线,其中,该扫描脉冲包括持续第一预定时间的第一电压用于驱动该像素单元导通,该测试脉冲包括持续第一预定时间的第二电压用于对像素单元充电,其特征在于,该驱动电路还包括检测单元,该检测单元包括多个检测电路,每一个检测电路电性连接于该多条数据线中的其中一条数据线,在扫描驱动电路向该像素单元输出该扫描脉冲,以及该数据驱动电路向该像素单元输出该测试脉冲后的第二预定时间内,该检测电路检测该数据线的电压并提供至该控制单元,当该数据线的电压等于该第二电压时,表示该数据线对应连接及被该扫描脉冲扫描的该像素单元损坏,其中,该像素单元包括薄膜晶体管与液晶电容,该薄膜晶体管包括栅极、源极和漏极,该栅极电性连接至对应的扫描线,该源极电性连接至对应的数据线,该漏极电性连接至该液晶电容,该第二预定时间小于该液晶电容的充电时间。

2.根据权利要求1所述的液晶显示器,其特征在于,该驱动电路还包括存储单元,该存储单元用于存储该测试脉冲中的该第二电压。

3.根据权利要求2所述的液晶显示器,其特征在于,该控制单元自该检测电路获取该数据线上的电压,以及自该存储单元读取该第二电压,并且对数据线上的电压与该第二电压进行大小比较运算。

4.根据权利要求1所述的液晶显示器,其特征在于,该控制单元还包括计数单元,该计数单元用于对该液晶显示面板中无法正常显示的像素单元的数量进行计数。

5.一种液晶显示器的检测方法,该液晶显示器包括液晶显示面板与驱动电路,该液晶显示面板在驱动电路的驱动下显示图像;该液晶显示面板包括多条扫描线、多条与该扫描线绝缘相交的数据线,该多条扫描线与该多条数据线定义的像素单元;该驱动电路包括控制单元、扫描驱动电路、数据驱动电路,该扫描驱动电路用于施加扫描电压信号或者扫描脉冲至该多条扫描线,该数据驱动电路用于施加灰阶电压或测试脉冲至该多条数据线,其特征在于,该驱动电路还包括检测单元,该检测单元包括多个检测电路,每一个检测电路电性连接于该多条数据线中的其中一条数据线,该检测方法包括以下步骤:

输出该扫描脉冲与测试脉冲至该像素单元,其中,该扫描脉冲包括持续第一预定时间的第一电压,该第一电压用于启动该像素单元开始工作,该测试脉冲包括持续第一预定时间的第二电压,该第二电压用于对该像素单元充电;

在输出该测试脉冲开始的第二预定时间内检测该数据线上的电压;及

比较检测获得的该数据线的电压与该第二电压,当该数据线上的电压等于该第二电压时,表示该像素单元损坏;

其中,该像素单元包括薄膜晶体管与液晶电容,该薄膜晶体管包括栅极、源极和漏极,该栅极电性连接至对应的扫描线,该源极电性连接至对应的数据线,该漏极电性连接至该液晶电容,该第二预定时间小于该液晶电容的充电时间。

6.根据权利要求5所述的检测方法,其特征在于,该第二电压预先进行存储,当该控制单元自该检测单元获取该数据线上的电压后,该控制单元对该数据线的电压与该第二电压进行大小比较运算。

7.根据权利要求5所述的检测方法,其特征在于,该扫描驱动电路在向其中一条扫描线输出该扫描脉冲时,该数据驱动电路向该多条数据线输出该测试脉冲,该多个检测电路分别检测该数据线上的电压,并将每条数据线上的电压输出至该控制单元,该控制单元依据输出该扫描脉冲的位置以及检测到数据线具有第二电压的检测电路确定损坏的像素单元的位置。

8.根据权利要求5所述的检测方法,其特征在于,该检测方法还包括步骤:该控制单元还包括计数单元,该计数单元对该液晶显示面板中无法正常显示的像素单元的数量进行计数。

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