[发明专利]太赫兹波产生装置、相机、成像装置和测量装置

权利要求书

1.一种太赫兹波产生装置，其特征在于，具备：

第1光源和第2光源，产生脉冲光；和

天线，被由所述第1光源和所述第2光源产生的脉冲光照射而产生太赫兹波，

所述天线具有隔着间隔而对置配置的一对电极，

所述第1光源和所述第2光源被构成为，相互错开时刻来对所述一对电极间照射脉冲光。

2.根据权利要求1所述的太赫兹波产生装置，其特征在于，

所述脉冲光的照射时刻的错开量小于该脉冲光的脉冲宽度。

3.根据权利要求1或2所述的太赫兹波产生装置，其特征在于，

所述第1光源和所述第2光源分别是半导体激光器。

4.根据权利要求1～3中的任意一项所述的太赫兹波产生装置，其特征在于，

所述第1光源和所述第2光源被一体化。

5.一种太赫兹波产生装置，其特征在于，具备：

第1光源、第2光源、第3光源和第4光源，产生脉冲光；和

天线，被由所述第1光源、所述第2光源、所述第3光源和所述第4光源产生的脉冲光照射而产生太赫兹波，

所述天线具有隔着间隔而对置配置的第1一对电极和第2一对电极，

所述第1光源和所述第2光源被构成为，相互错开时刻来对所述第1一对电极间照射脉冲光，

所述第3光源和所述第4光源被构成为，相互错开时刻来对所述第2一对电极间照射脉冲光，

从所述第1光源发出的脉冲光和从所述第2光源发出的脉冲光中的至少一个、与从所述第3光源发出的脉冲光和从所述第4光源发出的脉冲光中的至少一个的相位不同。

6.根据权利要求5所述的太赫兹波产生装置，其特征在于，

对所述第1一对电极间照射的脉冲光的照射时刻的错开量小于该脉冲光的脉冲宽度，对所述第2一对电极间照射的脉冲光的照射时刻的错开量小于该脉冲光的脉冲宽度。

7.根据权利要求5或6所述的太赫兹波产生装置，其特征在于，

从所述第1光源发出的脉冲光以及从所述第2光源发出的脉冲光、和从所述第3光源发出的脉冲光以及从所述第4光源发出的脉冲光的相位互不相同的脉冲光彼此的错开量小于该脉冲光的脉冲宽度。

8.根据权利要求5～7中的任意一项所述的太赫兹波产生装置，其特征在于，

所述第1光源、所述第2光源、所述第3光源和所述第4光源分别是半导体激光器。

9.根据权利要求5～8中的任意一项所述的太赫兹波产生装置，其特征在于，

所述第1光源、所述第2光源、所述第3光源和所述第4光源被一体化。

10.根据权利要求5～9中的任意一项所述的太赫兹波产生装置，其特征在于，

所述第1一对电极中的一个与所述第2一对电极中的一个电连接。

11.一种相机，其特征在于，具备：

太赫兹波产生装置，产生太赫兹波；和

太赫兹波检测装置，对从所述太赫兹波产生装置射出、并透过对象物或被对象物反射的太赫兹波进行检测，

所述太赫兹波产生装置具备：第1光源以及第2光源，产生脉冲光；和天线，被由所述第1光源和所述第2光源产生的脉冲光照射而产生太赫兹波，

所述天线具有隔着间隔而对置配置的一对电极，

所述第1光源和所述第2光源被构成为，相互错开时刻来对所述一对电极间照射脉冲光。

12.一种成像装置，其特征在于，具备：

太赫兹波产生装置，产生太赫兹波；

太赫兹波检测装置，对从所述太赫兹波产生装置射出、并透过对象物或被对象物反射的太赫兹波进行检测；和

图像形成部，根据所述太赫兹波检测装置的检测结果来生成所述对象物的图像，

所述太赫兹波产生装置具备：第1光源以及第2光源，产生脉冲光；和天线，被由所述第1光源和所述第2光源产生的脉冲光照射而产生太赫兹波，

所述天线具有隔着间隔而对置配置的一对电极，

所述第1光源和所述第2光源被构成为，相互错开时刻来对所述一对电极间照射脉冲光。

13.一种测量装置，其特征在于，具备：

太赫兹波产生装置，产生太赫兹波；

太赫兹波检测装置，对从所述太赫兹波产生装置射出、并透过对象物或被对象物反射的太赫兹波进行检测；和

测量部，根据所述太赫兹波检测装置的检测结果来对所述对象物进行测量，

所述太赫兹波产生装置具备：第1光源以及第2光源，产生脉冲光；和天线，被由所述第1光源和所述第2光源产生的脉冲光照射而产生太赫兹波，

所述天线具有隔着间隔而对置配置的一对电极，

所述第1光源和所述第2光源被构成为，相互错开时刻来对上述一对电极间照射脉冲光。