[发明专利]表面等离子体谐振图像检测芯片、系统及其使用方法无效

专利信息
申请号: 201210210534.8 申请日: 2012-06-20
公开(公告)号: CN103512861A 公开(公告)日: 2014-01-15
发明(设计)人: 蔡浩原;崔大付;李辉;陈兴;张璐璐;孙建海;任艳飞 申请(专利权)人: 中国科学院电子学研究所
主分类号: G01N21/41 分类号: G01N21/41;G01N21/55
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 宋焰琴
地址: 100080 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 表面 等离子体 谐振 图像 检测 芯片 系统 及其 使用方法
【权利要求书】:

1.一种表面等离子体谐振图像检测芯片,包括:

透明基底;

敏感膜阵列,包含至少两个分离的敏感膜单元,所述至少两分离的敏感膜单元中的每一敏感膜单元包括:

金属膜,沉积在所述透明基底上;

敏感材料,通过物理吸附或者化学键共价连接的方式结合到所述金属膜上;

检测池阵列,为具有厚度的材料,包含贯穿检测池阵列的、与所述至少两个分离的敏感膜单元分别对应的至少两个分离的检测池单元,其中:

检测池阵列上除所述至少两个分离的检测池单元之外的区域与所述透明基底紧密结合,形成密封;

所述至少两个分离的检测池单元中的每一检测池单元,其面积大于或等于对应敏感膜单元的面积,从而将该敏感膜单元围设于其底部。

2.根据权利要求1所述的表面等离子体谐振图像检测芯片,其中,所述检测池阵列的材料选自以下材料中的一种:树脂、硅胶和塑料。

3.根据权利要求1所述的表面等离子体谐振图像检测芯片,其中,所述检测池阵列的材料为固化的聚二甲基硅氧烷。

4.根据权利要求2所述的表面等离子体谐振图像检测芯片,其中,所述检测池阵列中检测池单元的的截面形状为以下形状中的一种:圆形、正方形、矩形和椭圆形。

5.根据权利要求4所述的表面等离子体谐振图像检测芯片,其中,所述检测池阵列中检测池单元的的截面形状为圆形。

6.根据权利要求5所述的表面等离子体谐振图像检测芯片,其中,所述检测池阵列中检测池单元的直径为5mm,深度为1mm。

7.根据权利要求1所述的表面等离子体谐振图像检测芯片,其中,所述敏感膜阵列敏感膜单元中:

金属膜的材料选自于以下材料中的一种:金、银、铝和铜;

敏感材料选自于以下材料中的一种:蛋白质、抗体、DNA、多肽和配体。

8.根据权利要求7所述的表面等离子体谐振图像检测芯片,其中,所述金属膜的材料为金,其厚度为50nm。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的表面等离子体谐振图像检测芯片,其中,所述至少两个分离的敏感膜单元中至少一敏感膜单元被对被测物质不敏感的钝化材料所修饰,将该敏感膜单元作为参比单元。

10.根据权利要求1至8中任一项所述的表面等离子体谐振图像检测芯片,其中,所述透明基底由光学玻璃材料制备。

11.一种包括权利要求1至10中任一项所述表面等离子体谐振图像检测芯片的表面等离子体谐振图像检测系统,还包括:

棱镜;放置于所述表面等离子体谐振图像检测芯片的下方,其上表面与所述表面等离子体谐振图像检测芯片透明基底的下表面通过耦合液耦合;

光源,位于棱镜的一侧,用于发出准直的光束经过棱镜照射在表面等离子体谐振图像检测芯片的下表面;

图像接收装置,位于棱镜的另一侧,用于接收光束经过所述表面等离子体谐振图像检测芯片的下表面后反射的经过棱镜的出射光。

12.根据权利要求11所述的表面等离子体谐振图像检测系统,其中,所述光源为激光器或发光二极管。

13.根据权利要求11所述的表面等离子体谐振图像检测系统,其中,所述棱镜为三角棱镜或圆珠棱镜。

14.一种采用权利要求1至10中任一项所述表面等离子体谐振图像检测芯片进行检测的方法,包括:

在所述至少两个检测池单元中滴加待测样品;

并行记录所述至少两个敏感膜单元对应的表面等离子体谐振信号的变化,以特定的截止时间对应的信号值,作为每个敏感膜单元对应的表面等离子体谐振信号值;

对于每个敏感膜单元,根据该敏感膜单元对应的表面等离子体谐振信号值,计算得到该敏感膜单元对应的待测物质的浓度。

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