[发明专利]一种改善服务器主板谐振区的方法无效
申请号: | 201210208708.7 | 申请日: | 2012-06-25 |
公开(公告)号: | CN102750415A | 公开(公告)日: | 2012-10-24 |
发明(设计)人: | 党杰 | 申请(专利权)人: | 浪潮电子信息产业股份有限公司 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 250014 山东*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 改善 服务器 主板 谐振 方法 | ||
技术领域
本发明涉及新兴的信息技术设备的谐振区改善技术领域,尤其涉及一种改善服务器主板谐振区的方法。
背景技术
在服务器主板谐振区结构中,电源和地平面之间构成谐振腔,因此存在谐振。当走线通过谐振较强的区域,信号相当于是走在一个浮动的参考平面上,若走线在此区域过孔,或者恰好某段走线接近谐振频点的1/4波长,则容易形成天线在近场带出该谐振点。服务器主板谐振区引起的辐射问题是十分普遍的,而且比较难解。
改善电源平面的谐振区,以降低辐射骚扰的强度有多种方法,目前,选择合适的去耦电容,并在合适的位置添加,是改善服务器主板谐振区主要方法,然而,该种传统的方法是通过一次又一次实测的方法,这样花费了大量的时间与费用。首先,找出谐振区时,传统方法是使用近场量测探头进行大范围的量测,这样一般要进行几十次量测,耗费很多的时间与劳动量。而添加去耦电容后,只能等到下一次打板验证,万一无效,前功尽弃,传统方法为了降低风险,进行了改进,往往选取很多位置,添加很多不同容值组合的电容,但是这样即使一次成功了,还有一个问题,就是相关位置能否摆下这么多电容。
故,针对上述现有技术在改善电源平面的谐振区,以降低辐射骚扰的强度方面存在的缺陷,实有必要进行研究,以提供一种方法来改善电源平面的谐振区,以降低辐射骚扰的强度。
发明内容
为解决上述问题,本发明的目的在于提供一种改善服务器主板谐振区的方法,以改善电源平面的谐振区,降低辐射骚扰的强度。
为实现上述目的,本发明的技术方案为:
一种改善服务器主板谐振区的方法,包括如下步骤:
S10:远场实测服务器,初步分析辐射源,以确定与主板谐振区有关的辐射源;
S11:运行SIwave软件,进行谐振区的仿真,获得谐振模式图,找出谐振最强的区域;
S12:对比实测数据,添加端口,仿真S参数曲线;
S13:根据S参数曲线,选择合适的去耦电容并进行添加;
S14:再次运行谐振模式仿真和S参数仿真,并进行前后对比分析,确认效果。
进一步地,在步骤S11中,把主板layout文件导入SIwave软件,选定网络端口区域,进行电容参数、频率范围等初始化设置,运行谐振仿真模式,SIwave软件通过求解齐次麦克斯韦方程得到2D谐振模式。
进一步地,在步骤S11中获得的谐振最强区域添加一个S端口,运行扫频分析功能,得到S参数曲线。
进一步地,在步骤S13中,根据S参数曲线,根据辐射超标最严重的谐振点,选择谐振频率在这个谐振点的频率值附近的去耦电容。
相较于现有技术,本发明改善服务器主板谐振区的方法节约时间,节省劳动量,且简单,安全可靠,可以有效地改善电源平面的谐振区,降低辐射骚扰的强度。
附图说明
图1是本发明的方法流程图示;
图2为服务器在远场的辐射实测图;
图3是采用本发明方法后所得的2D谐振图;
图4是本发明的S参数曲线图;
图5是本发明加去耦电容前后的S曲线比较图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
请参照图1所示,本发明改善服务器主板谐振区的方法包括如下步骤:
S10:远场实测服务器,初步分析辐射源,以确定与主板谐振区有关的辐射源;
S11:运行SIwave软件,进行谐振区的仿真,获得谐振模式图,找出谐振最强的区域;
S12:对比实测数据,添加端口,仿真S参数曲线;
S13:根据S参数曲线,选择合适的去耦电容并进行添加;
S14:再次运行谐振模式仿真和S参数仿真,并进行前后对比分析,确认效果。
其中,参照图2对步骤S10进行说明,图2为某服务器在远场的辐射实测图,其中曲线表示辐射强度,上面的折线为法规限值CISPR22 ClassB 10M Radiation,下面的折线为法规裕量限值Margin 6dB,以上面的折线为准,曲线超出该折线,表示辐射超标。从图中不难看出,该服务器主板在第8个标示点750M上辐射超标最严重;在实测时,拔掉网线,750M超标点消失,而750M恰为网络端口时钟125M的6倍频。因此,可以初步断定该超标点与主板网络端口区域的谐振有关。
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