[发明专利]一种灯具测试装置有效

专利信息
申请号: 201210205989.0 申请日: 2012-06-21
公开(公告)号: CN102721532A 公开(公告)日: 2012-10-10
发明(设计)人: 潘建根 申请(专利权)人: 杭州远方光电信息股份有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G01M11/06
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 310053 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 灯具 测试 装置
【说明书】:

技术领域

发明属于光辐射测量领域,具体涉及一种灯具测试装置。 

背景技术

车用灯具作为汽车的照明和指示工具,堪称为“车辆的眼睛”,车灯照明分布应能最大限度地照明车辆前方的道路和障碍物,最小限度地照射迎面而来的车辆驾驶员的眼睛,因此,车灯应具有特定的配光性能,其配光性能的好坏对安全行驶起着至关重要的作用,直接关系到人们的财产和生命安全。国内外相关标准均将车灯的配光性能列为法规或者强制性标准的检测项目,并对相关的测试装置和测试条件作了相应的规定。 

传统的车用灯具检测有两种方法,一种是被测灯具不动,用照度计分别测量配光屏上不同位置处的照度;另一种是照度计不动,转动灯具,测量探头对应灯的不同角度(相当于探头处于屏的不同位置)处的照度值。通过核查各个照度值是否符合标准规定,从而判断灯具是否合格。然而,由于国标GB 4599-2007等标准明确规定,上述测量方法中的配光屏必须位于离灯基准中心25m处、并过HV点的垂直平面,因此要求实验室的尺寸应足够大,只能适用于实验室测量,难以适用于车灯的现场检测。 

为解决传统检测方法的不足,现有技术采用在配光屏和待测灯具之间设置非涅尔透镜,将前照灯在25m处配光屏上的光能分布图成像到它的后焦面附近,大大缩短了测量距离,但由于光线经非涅尔透镜发生折射,会产生较大的色差;此外,现有的采用平面配光屏的方法,光线照射到其上时,会产生较大的球差。因此,现有的测量装置存在较大的像差,成像质量较差,测量准确度低,测量结果不能真实反映车灯的配光性能,严重影响对车灯质量的客观评价。 

发明内容

针对上述现有技术的不足,本发明旨在提供一种像差小、测量准确度高的灯具测试装置。 

本发明所述的一种灯具测试装置是通过以下技术方案实现的。一种灯具测试装置,包括用以装载待测灯具的灯具座和配光屏,其特征在于,包括将待测灯具的光线成像到配光屏上的凹面反射镜,以及用以接收配光屏上光信息的第一光电探测器,第一光电探测器为多通道光电探测器;所述的第一光电探测器设置在配光屏后并对准配光屏,所述的配光屏位于凹面反射镜之后的光路中。 

本发明利用凹面反射镜的反射、会聚效应,将待测灯具的光线成像到配光屏上,再利用在其后的多通道探测器接收、测量配光屏上的光分布信息,并与相关标准中的数据进行比较,从而判断被测灯具是否符合相关标准要求。相比于现有采用非涅尔透镜的测量装置,由于本发明公开的技术方案在整个光路中,光线只进行了反射和会聚,因此,该测量装置完全不存在色差,测量准确度高。 

本发明可通过以下技术方案进一步限定和完善: 

作为优先,包括分光器,所述的分光器设置在凹面反射镜和灯具座之间,分光器将来自待测灯具光线被至少分为两束。这里的分光器为半透半反平面镜或者半透半反分光棱镜,分光器将来自待测灯具的光线分为反射光和透射光两束光线,其中透射光线经凹面反射镜反射到配光屏上,被第一光电探测器接收和测量;另一束反射光线可以入射到人眼中,人眼观察待测灯具的光信息,并根据第一光电探测器测得的光分布信息,辅助调节待测灯具的位置,实现待测灯具配光性能的精确测量。

由于人眼的主观因素,较难实现对待测灯具位置的准确调节,因此可包括第二光电探测器,第二光电探测器和凹面反射镜分别位于分光器的两边光路上,第二光电探测器为单通道或者多通道光电探测器。透射光线经凹面反射镜反射,入射到第一光电探测器上;反射光线被第二光电探测器直接地或间接地接收和测量。用客观的第二光电探测器代替人眼,接收和测量反射光线,观察并准确调节待测灯具的位置,进一步提高测量准确度。此外,可在所述的第二光电探测器前设置成像装置,将分光器的反射光线成像到第二光电探测器上,严格保证成像关系,提高测量准确度。 

作为一种技术方案,所述的凹面反射镜相对于待测灯具倾斜设置,凹面反射镜的出射光线直接成像到配光屏上;或者所述的凹面反射镜的对称轴过待测灯具的基准中心,凹面反射镜的出射光线经分光器反射成像到配光屏上。 

作为优选,包括用以接收配光屏上光信息的第三光电探测器,所述的第三光电探测器为设置在配光屏后并对准配光屏的多通道探测器。第一光电探测器和第三光电探测器可分别设置在配光屏中轴线的对称位置处,两者相互配合,分别满足对配光屏上的光分布信息不同需求的测量。例如,第二光电探测器为高精度面阵CCD,用于对配光屏的光信息进行高精度测量;第三光电探测器为像素点少、高采集速度的CCD,用于对配光屏的光信息进行快速测量。 

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