[发明专利]预烧板、系统及方法

说明书

技术领域

本发明的实施示范例一般是有关于改良的预烧(burn in)板，且特别是有关于包括一个或多个集成电路的预烧板。

背景技术

硬件组件的测试的常见作法涉及被称为预烧的过程。预烧过程的目的是使组件遭受到应力测试以确认那些不良的组件。在多数个实例中，组件可能受到比它们一般地在操作期间会经历的来得较高或更多持续的电压。这种预烧过程通常实施于具有提升的温度的环境(例如预烧炉)中。

为了使组件遭受一预烧过程，可将组件连接至一预烧测试系统。预烧测试系统可包括一常常与预烧炉相关的预烧机器，以及一预烧板。预烧板可允许多个组件同时被连接并遭受到预烧过程。预烧机器接着可提供并接收来自包括连接组件的预烧板的一个或多个信号。

图1显示一已知的预烧测试系统100的概要设计，预烧测试系统100包括一预烧机器105(例如由一驱动板及一比较器板等组成)以及一预烧板110。虽然没有所有的连接组件都显示于图1中，但预烧板110包括多个连接组件115(如矩形或点所表示的)。组件115可能被排列成一连串的行与列，每个组件115代表一待测装置(DUT)。

如图1所示，预烧机器105可透过至少一个或更多个时钟脉冲通道(CLK)130、一个或多个扫描通道(SCAN)132以及一个或多个输入/输出通道(I/O)134提供信号至预烧板110。时钟脉冲信号可能连接至每行的末端上的一组件115。接收时钟脉冲信号的组件115接着可将时钟脉冲信号传送至同一行的其他组件115。相似地，输入/输出信号的一子集合可能连接至每列的末端上的一组件115。然后，接收输入/输出信号的组件115可将输入/输出信号传送至同一列的其他组件115。此外，可将一扫描信号传送至每行的末端上的一组件115。接收扫描信号的组件115接着可将扫描信号传送至同一行的其他组件115。

由于通过图1的已知的预烧测试系统100中的组件115的高度的信号共享(亦即，时钟脉冲信号、扫描信号，以及输入/输出信号的信号共享)，系统100可能蒙受到不必要地增加的上升时间(T_R)及下降时间(T_F)。此外，信号可能受高电平的噪声影响。因此，已知的预烧测试系统100可能经历确认组件115的输出数据的困难度。再者，可能降低组件115的备妥/忙碌信号的轮询效率。预烧测试系统100的输出亦可被减少，因而导致预烧过程的成本增加。

因此，吾人可能期待提供改良的预烧板、系统以及用于使组件遭受一预烧过程的方法，其克服至少某些已知技术的上述与其他缺点以及缺陷。

发明内容

于此提供用于帮助包括集成电路的预烧板的使用的系统、方法、设备以及计算机程序产品。在一实施示范例中，提供一种设备。此设备可包括一预烧板以及一个或多个连接至预烧板的集成电路。每个集成电路可被设计成用于至少：连接至待受到一预烧过程的多个组件；接收至少一信号，用于在预烧过程期间测试多个组件；以及传输至少一信号至多个组件的每一个。集成电路可能更进一步被设计成用于：接收来自多个组件的每一个的输出数据；比较来自多个组件的每一个的输出数据与期待被读取的数据；以及传输比较的一结果。此外，集成电路可被设计成用于：传输待写入的数据至多个组件的每一个；向多个组件的每一个请求备妥状态信息，其中备妥状态信息包括组件是备妥的一指示或组件是忙碌的一指示；以及因应于此请求，接收来自多个组件的每一个的一备妥状态的一指示。

在另一实施示范例中，提供一种用于在室温下执行一预烧过程的方法。此方法可包括接收至少一时钟脉冲信号与至少一输入/输出信号，用于执行预烧过程。此外，此方法可包括通过连接至多个组件的一个或多个集成电路，将至少一时钟脉冲信号与至少一输入/输出信号分配至多个组件。此方法可更包括接收来自多个组件的每一个的一输出反应。此方法亦可包括比较来自多个组件的每一个的输出反应的输出数据与期待被读取的数据；以及传送比较的一结果。此外，此方法可包括传送待写入的数据至多个组件的每一个；向多个组件的每一个请求备妥状态信息，其中备妥状态信息包括组件是备妥的一指示或组件是忙碌的一指示；以及因应于此请求，接收来自多个组件的每一个的一备妥状态的一指示。