[发明专利]定位目标的方法和装置有效

专利信息
申请号: 201210199339.X 申请日: 2012-06-15
公开(公告)号: CN103513226A 公开(公告)日: 2014-01-15
发明(设计)人: 王悦 申请(专利权)人: 华为技术有限公司
主分类号: G01S5/02 分类号: G01S5/02
代理公司: 北京龙双利达知识产权代理有限公司 11329 代理人: 毛威;张亮
地址: 518129 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 定位 目标 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种定位目标的方法,其特征在于,包括:

确定第1次定位的检测节点;

根据所述第1次定位的检测节点测量的定位数据,确定所述目标的第1次定位位置;

根据所述目标的第k-1次定位位置,确定第k次定位的检测节点,k为正整数且k大于或等于2;

根据所述第k次定位的检测节点测量的定位数据,确定所述目标的第k次定位位置;

根据所述目标的第k次定位位置,确定所述目标的最终位置。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述目标的第k次定位位置,确定所述目标的最终位置,包括:

若所述目标的第k次定位位置与所述目标的第k-1次定位位置相差不超过误差门限,则将所述目标的第k次定位位置,确定为所述目标的最终位置;

若所述目标的第k次定位位置与所述目标的第k-1次定位位置相差超过误差门限,则根据所述目标的第k+1次定位位置,确定所述目标的最终位置。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述目标的第k次定位位置,确定所述目标的最终位置,包括:

将所述目标的第k次定位位置,确定为所述目标的最终位置。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其特征在于,所述根据所述目标的第k-1次定位位置,确定第k次定位的检测节点,包括:

根据所述目标的第k-1次定位位置,确定第k次定位的新增检测节点,所述新增检测节点与所述目标的第k-1次定位位置之间的距离在预定范围内;

将所述新增检测节点,确定为所述第k次定位的检测节点;或

将所述第k-1次定位的检测节点中的至少一个检测节点和所述新增检测节点,确定为所述第k次定位的检测节点。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述将所述第k-1次定位的检测节点中的至少一个检测节点和所述新增检测节点,确定为所述第k次定位的检测节点,包括:

将所述第k-1次定位的检测节点和所述新增检测节点,确定为所述第k次定位的检测节点。

6.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其特征在于,所述根据所述第1次或第k次定位的检测节点测量的定位数据,确定所述目标的第1次或第k次定位位置,包括:

通过对所述第1次或第k次定位的检测节点测量的定位数据进行去相关操作,然后进行信号重建,确定所述目标的第1次或第k次定位位置。

7.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其特征在于,所述确定第1次定位的检测节点,包括:

按照随机选取或预先确定的方式,确定所述第1次定位的检测节点。

8.一种定位目标的装置,其特征在于,包括:

第一确定模块,用于确定第1次定位的检测节点;

第一处理模块,用于根据所述第一确定模块确定的所述第1次定位的检测节点测量的定位数据,确定所述目标的第1次定位位置;

第二确定模块,用于根据所述目标的第k-1次定位位置,确定第k次定位的检测节点,k为正整数且k大于或等于2;

第二处理模块,用于根据所述第二确定模块确定的所述第k次定位的检测节点测量的定位数据,确定所述目标的第k次定位位置;

第三处理模块,用于根据所述第二处理模块确定的所述目标的第k次定位位置,确定所述目标的最终位置。

9.根据权利要求8所述的装置,其特征在于,所述第三处理模块具体用于,若所述目标的第k次定位位置与所述目标的第k-1次定位位置相差不超过误差门限,则将所述目标的第k次定位位置,确定为所述目标的最终位置,并且,若所述目标的第k次定位位置与所述目标的第k-1次定位位置相差超过误差门限,则根据所述目标的第k+1次定位位置,确定所述目标的最终位置。

10.根据权利要求8所述的装置,其特征在于,所述第三处理模块具体用于将所述目标的第k次定位位置,确定为所述目标的最终位置。

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