[发明专利]热继电器双金属片检测装置无效
申请号: | 201210197924.6 | 申请日: | 2012-06-15 |
公开(公告)号: | CN103512519A | 公开(公告)日: | 2014-01-15 |
发明(设计)人: | 沈皓然 | 申请(专利权)人: | 苏州工业园区高登威科技有限公司 |
主分类号: | G01B21/00 | 分类号: | G01B21/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215121 江苏省苏州市工业*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 继电器 双金属 检测 装置 | ||
1.一种热继电器双金属片检测装置,用于检测热继电器双金属片的位置状态,其特征在于,所述热继电器双金属片检测装置包括:
检测模块,所述检测模块用于检测热继电器双金属片位置状态;
显示装置,所述显示装置与所述检测模块电性连接,所述显示装置用于显示表征所述热继电器双金属片位置状态的计量值;
升降机构,所述升降机构包括基台以及为所述基台提供上升动力的升降泵,所述检测模块设置于所述基台上;
其中,所述基台配合有滑动套杆,所述滑动套杆上套设有弹性元件,所述基台通过自身重力提供向下运动的动力。
2.根据权利要求1所述的热继电器双金属片检测装置,其特征在于,所述弹性元件是弹簧。
3.根据权利要求1所述的热继电器双金属片检测装置,其特征在于,所述检测模块包括探针及位移传感器,所述探针用于与热继电器双金属片配合,所述位移传感器与所述探针电性连接,所述位移传感器通过所述探针检测热继电器双金属片的位置状态。
4.根据权利要求3所述的热继电器双金属片检测装置,其特征在于,所述位移传感器包括电感式位移传感器、和/或电容式位移传感器、和/或光电式位移传感器、和/或超声波式位移传感器、和/或霍尔式位移传感器。
5.根据权利要求3所述的热继电器双金属片检测装置,其特征在于,所述位移传感器包括直线位移传感器。
6.根据权利要求1所述的热继电器双金属片检测装置,其特征在于,所述装置还包括与所述基台联动的杠杆件,所述升降泵通过压迫所述杠杆件向下运动从而给所述基台提供上升的动力。
7.根据权利要求1所述的热继电器双金属片检测装置,其特征在于,所述显示装置包括显示仪表、和/或电子显示器。
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