[发明专利]信息处理设备、三维测量设备和信息处理方法

权利要求书

1.一种信息处理设备，包括：

获取单元，用于使用来自被投射了结构光的测量对象物体的反射光的信息、所述结构光的光源的位置、以及用于接收所述反射光并且获取所述反射光的信息的光接收单元的位置，获取所述测量对象物体的表面的多个位置；

计算单元，用于基于所述多个位置，获取所述测量对象物体的表面的位置和方向中的至少一个；以及

校正单元，用于基于与在获取所述多个位置时的测量误差有关的信息、以及所述测量对象物体的表面的位置和方向中的至少一个，校正所述多个位置中的至少一个。

2.根据权利要求1所述的信息处理设备，其特征在于，与在获取所述多个位置时的测量误差有关的信息包括与所述测量对象物体的表面下散射有关的信息、与所述测量对象物体的各向异性反射有关的信息、以及与所述测量对象物体的镜面反射有关的信息中的至少一个。

3.根据权利要求1所述的信息处理设备，其特征在于，所述结构光是图案光和狭缝光中的至少一个。

4.根据权利要求1所述的信息处理设备，其特征在于，所述校正单元基于所述光源的位置、所述光接收单元的位置、与在获取所述多个位置时的测量误差有关的信息、以及所述测量对象物体的表面的位置和方向中的至少一个，校正所述多个位置中的至少一个。

5.根据权利要求1所述的信息处理设备，其特征在于，还包括：

存储单元，用于存储与在获取所述多个位置时的测量误差有关的信息与所述测量对象物体的表面的位置和方向中的至少一个的对应信息，

其中，所述校正单元基于所述对应信息以及所述测量对象物体的表面的位置和方向中的至少一个，校正所述多个位置中的至少一个。

6.根据权利要求1所述的信息处理设备，其特征在于，所述计算单元通过将所述测量对象物体的模型与所述多个位置进行拟合，获取所述测量对象物体的表面的位置和方向中的至少一个。

7.根据权利要求1所述的信息处理设备，其特征在于，所述校正单元通过计算机模拟，获取与在获取所述多个位置时的测量误差有关的信息。

8.根据权利要求1所述的信息处理设备，其特征在于，还包括测量单元，所述测量单元用于通过将所述测量对象物体的模型与所述校正单元所校正后的所述多个位置中的至少一个进行拟合，获取所述测量对象物体的位置和姿势中的至少一个。

9.根据权利要求1所述的信息处理设备，其特征在于，所述校正单元基于所述结构光在所述测量对象物体上的入射位置和所述反射光的观测位置之间的偏离量、以及所述测量对象物体的表面的位置和方向中的至少一个，校正所述多个位置中的至少一个。

10.一种三维测量设备，包括：

光源；

光接收单元；以及

根据权利要求1所述的信息处理设备。

11.根据权利要求10所述的三维测量设备，其特征在于，还包括位置姿势操作单元，所述位置姿势操作单元用于基于所述校正单元所校正后的所述测量对象物体的表面的多个位置，控制具有可动轴的机器人，并且改变所述测量对象物体或所述信息处理设备的位置姿势，其中所述可动轴包括转动轴和平移运动轴中的至少一个。

12.一种三维测量设备，其包括：

投射单元，用于将结构光投射至测量对象物体；

摄像单元，用于拍摄来自所述测量对象物体的、所述结构光的反射光的图像；

获取单元，用于使用所述投射单元的位置姿势、所述摄像单元的位置姿势、以及所述摄像单元所获取的拍摄图像，获取所述测量对象物体的表面的多个位置；

计算单元，用于根据所述多个位置，计算所述多个位置附近的、所述测量对象物体的表面的斜率；以及

校正单元，用于根据所述测量对象物体的表面的光学特性和所述测量对象物体的表面的斜率，校正所述多个位置中的至少一个。

13.一种信息处理方法，包括以下步骤：

使获取单元使用来自被投射了结构光的测量对象物体的反射光的信息、所述结构光的光源的位置、以及用于接收所述反射光并且获取所述反射光的信息的光接收单元的位置，获取所述测量对象物体的表面的多个位置；

使计算单元基于所述多个位置，获取所述测量对象物体的表面的位置和方向中的至少一个；以及

使校正单元基于与在获取所述多个位置时的测量误差有关的信息、以及所述测量对象物体的表面的位置和方向中的至少一个，校正所述多个位置中的至少一个。