[发明专利]具有与标准USB插头不同结构的特殊USB插头和可与特殊USB插头配合的USB插座有效

专利信息
申请号: 201210194820.X 申请日: 2012-06-13
公开(公告)号: CN102842828A 公开(公告)日: 2012-12-26
发明(设计)人: 内藤丈晴;渡边真秀;片柳雅之;横山阳平 申请(专利权)人: 日本航空电子工业株式会社
主分类号: H01R27/00 分类号: H01R27/00;H01R13/02;H01R13/40;H01R13/516;H01R13/703
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 吴敬莲
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 具有 标准 usb 插头 不同 结构 特殊 配合 插座
【权利要求书】:

1.一种通用串行总线(USB)插座,标准USB插头和特殊USB插头能够选择性地沿着预定方向与所述USB插座配合和被从所述USB插座移除,所述标准USB插头符合USB标准以具有标准外壳,所述特殊USB插头具有特殊外壳以具有与所述标准USB插头不同的结构,所述USB插座包括:

检测器,所述检测器具有接触部分,所述接触部分被设置在所述标准外壳在所述标准USB插头与所述USB插座配合时不能到达的位置处,当所述特殊USB插头与所述USB插座配合时,所述特殊外壳在所述位置处被连接到所述接触部分。

2.一种通用串行总线(USB)插座,标准USB插头和特殊USB插头能够沿着预定方向选择性地与所述USB插座配合和沿着预定方向被从所述USB插座移除,所述标准USB插头符合USB标准,以便具有由导电材料制成的标准外壳,所述特殊USB插头具有由导电材料制成的特殊外壳,所述特殊外壳包括具有与所述标准外壳相同形状的部分和沿所述预定方向突出而超过所述部分的识别部分,使得所述特殊USB插头具有与所述标准USB插头不同的结构,所述USB插座包括:

多个接触件,所述接触件中的每一个都具有接触部;

保持构件,所述保持构件由绝缘材料制成,所述保持构件保持所述接触件,使得所述接触件沿垂直于所述预定方向的间距方向设置,所述保持构件具有主体部分,所述主体部分具有沿所述预定方向延伸的板状形状,同时在垂直于所述预定方向和所述间距方向的垂直方向上具有厚度,所述接触件的所述接触部被设置在所述主体部分的上表面上;

外壳,所述外壳由导电材料制成,所述外壳在垂直于所述预定方向的平面中包围所述保持构件,所述外壳具有在所述USB插座与所述标准USB插头配合时能够连接到所述标准外壳而在所述USB插座与所述特殊USB插头配合时能够连接到所述特殊外壳的形状;和

检测器,所述检测器由导电材料制成,所述检测器不同于所述外壳,所述检测器由所述保持构件保持,以便不直接连接到所述外壳,所述检测器具有接触部分,所述接触部分被设置在所述标准外壳在所述标准USB插头与所述USB插座配合时不能到达的位置处,所述特殊外壳的所述识别部分在所述特殊USB插头与所述USB插座配合时在所述位置连接到所述接触部分。

3.根据权利要求2所述的USB插座,其中:

所述保持构件在所述间距方向上具有侧部;和

所述检测器被保持在所述侧部处,使得所述接触部分能够在垂直于所述垂直方向的水平面中移动。

4.根据权利要求3所述的USB插座,其中:

所述检测器具有被保持部分和弹簧部分,所述弹簧部分从所述被保持部分延伸以能够弹性变形,所述接触部分被设置在所述弹簧部分上;

所述保持部分具有检测器保持部分、可移动区域和可变形区域,所述检测器保持部分保持所述被保持部分,所述可移动区域被构造成使得所述接触部分能够在所述可移动区域中移动,所述可变形区域被构造成使得所述弹簧部分在所述可变形区域中能够变形;和

所述可变形区域形成为在所述间距方向上定位于所述检测器保持部分和所述可移动区域之间,所述可变形区域的所述间距方向上的尺寸被设计成越靠近所述可移动区域就变得越大。

5.根据权利要求4所述的USB插座,其中:

所述弹簧部分设置有被调节部分;和

所述保持构件形成有调节部分,所述调节部分被构造成调节所述被调节部分在所述间距方向上的向外运动。

6.根据权利要求5所述的USB插座,其中:

当所述USB插座与所述特殊USB插头配合时,所述调节部分在所述间距方向上位于所述特殊外壳的内部。

7.根据权利要求4所述的USB插座,其中:

所述检测器保持部分是在垂直于所述间距方向的垂直平面中延伸以形成有内壁的沟槽;

所述被保持部分和所述弹簧部分中的每一个都在所述垂直平面中延伸,所述被保持部分和所述弹簧部分中的每一个的尺寸小于所述检测器保持部分在所述间距方向上的尺寸;和

所述检测器保持部分形成有突起,所述突起使所述被保持部分压靠在所述检测器保持部分的所述内壁上。

8.根据权利要求7所述的USB插座,其中:

所述检测器形成有压配合柱状部,所述压配合柱状部被压配合在所述保持构件中;和

所述突起形成在所述压配合柱状部上。

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