[发明专利]预兼容实验室辐射发射测试校准方法

说明书

技术领域

本发明涉及定量描述不同电磁兼容实验室测试结果差异程度的评价参量，并基于标准实验室和预兼容实验室之间的比对试验提出了一种预兼容实验室辐射发射测试校准方法。

背景技术

目前很多国家和组织都制定了相关的电子设备及产品的电磁兼容标准，标准规定只有符合相关指标要求的电子和电气产品才能进入市场。要判断某电子产品是否存在电磁兼容性问题，就需要依据相关标准对该产品进行具体的电磁兼容测试。通常，产品电磁兼容性的最终检测评定是在标准实验室里进行的，然而从某种程度上说，目前的标准实验室只是起到了最终测试裁定与评价的作用，而远没有满足产品研发中作为验证测试、故障诊断测试、设计验证手段的需求。

从行业发展来看，迫切需要找到一个针对性强且成本低廉、方便可行的测试验证手段，以保证电子产品能在“设计—研制—生产”的全周期中实现较好的电磁兼容验证与控制。因此，简便易行的基于小型电磁屏蔽室环境的预兼容实验室的建设以其针对性强、方便适用、成本低廉等优点而受到越来越多的关注，尤其对于电磁兼容性能要求很高的国防装备，有着更为广泛的需求背景。但是，目前的已有的实验室由于总体结构、测试环境、测试附件等方面条件与标准实验室相比而言还是存在着较大差异，因此如何尽可能提高预兼容实验室测试结果的准确性和可靠性便成为当务之急。

发明内容

本发明的目的是：提供一种成本低廉、方便性好的预兼容实验室辐射发射测试校准方法，对一般受试设备在预兼容实验室的测试结果进行校准，使其与标准实验室测试结果一致。

本发明的目的是这样实现的，预兼容实验室辐射发射测试校准装置，其特征是：包括仪器室和测量室，仪器室有测控计算机和频谱分析仪，频谱分析仪与测量室内的接收天线组电连接，接收天线组接收受试设备的信号，受试设备通过线性阻抗稳定网络连接电源。

接收天线组是双锥天线，30MHz～200MHz频段内，信号源与双锥天线连接作为发射天线进行辐射发射，频谱分析仪与另一个双锥天线作为接收天线。

接收天线组是对数周期天线，200MHz～1000MHz频段内，信号源与对数周期天线电连接，对数周期天线作为发射天线进行辐射发射，频谱仪与另一个对数周期天线作为接收天线。

预兼容实验室辐射发射测试校准方法，其特征是：至少包括如下步骤：

步骤201，开始；

步骤202，记录在预兼容实验室测试的测试数据曲线；

步骤203，记录在标准容实验室测试的测试数据曲线；

步骤204，对两组实验室测得相似指数、尖峰保有率和联系度的数据曲线进行定量评价；

步骤205，对两组实验室测得的数据曲线进行一致性判断，若满足一致性判据，则进入步骤206，若不满足一致性判断，则进入步骤207；

步骤206，转步骤209；

步骤207，对预兼容实验室测得的数据曲线进行校准，校准过程包括校准因子的获取过程和校准因子的施加过程；

步骤208，转步骤205；

步骤209结束。

所述的步骤204中相似指数根据下式便可以计算出这两个序列的相似指数：