[发明专利]一种测量发光材料非线性光学性质的方法有效

专利信息
申请号: 201210186079.2 申请日: 2012-06-07
公开(公告)号: CN102879334A 公开(公告)日: 2013-01-16
发明(设计)人: 董志伟;关国英;陈德应 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: G01N21/17 分类号: G01N21/17
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 150001 黑龙江省哈尔滨市*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要:
搜索关键词: 一种 测量 发光 材料 非线性 光学 性质 方法
【权利要求书】:

1.本专利涉及一种可用于测试发光材料多种非线性光学性能的改进实验方法。

2.该方法的改进之处在于通过在探测器前引入光学滤波技术来消除发光材料荧光发射对测试的干扰。

3.通过在测试光路中平移台后方安置光学分束片来实现同时测试材料非线性光学吸收特性和非线性光学折射特性。

4.根据3的要求,针对发光材料,光学分束片要镀膜,镀膜要求是对待测材料发光波长高衰减,以减小发光材料的荧光效应对测试结果的影响。

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