[发明专利]电子装备故障诊断方法和系统

权利要求书

1.一种电子装备故障诊断方法，其特征在于，包括如下步骤：

读取用户输入的故障树；其中，所述故障树包括测试点的相关信息；

将所述故障树封装成测试点、标准参数、故障规则以及逻辑关联四个对象；

根据所述封装的对象建立原位状态下的测试模型；

根据所述测试模型从被测对象的测试点采集测试数据；

利用所述测试模型诊断所述测试数据获得故障位置。

2.根据权利要求1所述的电子装备故障诊断方法，其特征在于，所述测试点的相关信息包括：电压值、电流值、频率值和/或电平值。

3.根据权利要求1所述的电子装备故障诊断方法，其特征在于，所述将所述故障树封装成测试点、标准参数、故障规则以及逻辑关联四个对象的过程包括：

利用设定的函数将所述故障树拆分为测试点、标准参数、故障规则以及逻辑关联四个特征元素；

将所述特征元素封装成测试点、标准参数、故障规则以及逻辑关联四个对象。

4.根据权利要求1所述的电子装备故障诊断方法，其特征在于，所述利用设定的函数将所述故障树拆分为测试点、标准参数、故障规则以及逻辑关联四个特征元素的过程包括：

从故障树的行为节点中提取行为主体与行为，标定各个测试点；

检索判断节点的约束值和不同结果状态下，引导至其它行为或故障定位的连接线，获得标准参数与逻辑关联；

从故障树的故障规则节点提取故障信息，并获取故障规则节点之前的判断节点的行为主体，确定故障树的故障规则。

5.根据权利要求1所述的电子装备故障诊断方法，其特征在于，所述根据所述封装的对象建立原位状态下的测试模型的过程包括：

以测试点为主体建立测试模型；

选取测试模型的入口测试点，将所述入口测试点设为模型入口；

根据所述封装的标准参数、故障规则以及逻辑关联内部对象，建立测试模型中各个测试点的内部逻辑属性。

6.根据权利要求5所述的电子装备故障诊断方法，其特征在于，根据所述测试模型从被测对象的测试点采集测试数据的过程包括：

以所述入口测试点为初始测试位置，并根据所述内部逻辑查找出下一层诊断测试的测试点位置，对所述位置对应的测试点的数据进行采集，获取所有测试点的测试数据。

7.根据权利要求6所述的电子装备故障诊断方法，其特征在于，利用所述测试模型诊断所述测试数据获得故障位置的过程包括：

将所采集的测试数据与所述测试模型中的标准参数进行对比，获取不合格的测试数据；

将所述不合格的测试数据与所述测试模型中的故障规则进行匹配确定故障位置。

8.一种电子装备故障诊断系统，其特征在于，包括：

信息录入单元，用于读取用户输入的故障树；其中，所述故障树包括测试点的相关信息；

对象封装单元，用于将所述故障树封装成测试点、标准参数、故障规则以及逻辑关联四个对象；

模型建立单元，用于根据所述封装的对象建立原位状态下的测试模型；

数据采集单元，用于根据所述测试模型从被测对象的测试点采集测试数据；

故障诊断单元，用于利用所述测试模型诊断所述测试数据获得故障位置。

9.根据权利要求8所述的电子装备故障诊断系统，其特征在于，所述对象封装单元包括：

预处理模块，用于利用设定的函数将所述故障树拆分为测试点、标准参数、故障规则以及逻辑关联四个特征元素；

封装模块，用于将所述特征元素封装成测试点、标准参数、故障规则以及逻辑关联四个对象。

10.根据权利要求8所述的电子装备故障诊断系统，其特征在于，所述故障诊断单元包括：

数据分析模块，用于将所采集的测试数据与所述测试模型中的标准参数进行对比，获取不合格的测试数据；

故障定位模块，用于将所述不合格的测试数据与所述测试模型中的故障规则进行匹配确定故障位置。