[发明专利]单相变压器绕组漏抗的三绕组测量法无效

专利信息
申请号: 201210185482.3 申请日: 2012-06-07
公开(公告)号: CN102759663A 公开(公告)日: 2012-10-31
发明(设计)人: 魏明 申请(专利权)人: 魏明
主分类号: G01R27/08 分类号: G01R27/08;G01R31/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 250021 山东省济南市*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 单相 变压器 绕组 测量
【说明书】:

所属技术领域

发明涉及一种测量单相变压器一、二次绕组漏抗方法,尤其是利用第三绕组测量单相变压器一、二次绕组漏抗方法。 

背景技术

目前,公知单相变压器一、二次绕组漏抗方法一般是将低压绕组短路,在高压绕组两端加电压使低压绕组电流达到额定值,测量高压绕组电压、电流、有功功率,计算出该相绕组漏抗x,x=x1+x2’,估计x1、x2’或x2近似值。这种方法只能得到x1、x2’或x2近似值。 

发明内容

为了克服现有单相变压器绕组漏抗测量方法所存在只能得到x1+x2’、根据x1+x2’估计x1、x2’或x2近似值的不足,本发明提出一种利用第三绕组分别测量单相变压器一、二次绕组漏抗x1、x2的方法。 

本发明解决其技术问题所采用的技术方案 

在单相变压器铁心外装入与N1、N2共铁心的第3测量绕组N3,在单相变压器铁心外装入与一次绕组N1、二次绕组N2共铁心的第三绕组N3;依次将N1、N2、N3一个绕组开路、对另两个绕组按照单相变压器短路试验方法进行短路试验,根据单相变压器短路试验原理测得进行短路试验的两个绕组的漏抗之和;联立三次测得两个绕组的漏抗之和解出N1、N2、N3绕组漏抗x1、x2、x3。 

设N1>N2>N3,N1加电压V10已测得N2开路电压V20、N3开路电压V30。N3开路、N1短路、N2加压V2,测得I2和Φ2,可得: 

(V2/I2)sinΦ2=x2+x1’=x2+(V20/V10)2x1       (1) 

N1开路、N2短路、N3加压V3,测得I3和Φ3,可得: 

(V3/I3)sinΦ3=x3+x2’=x3+(V30/V20)2x2         (2) 

N2开路、N1短路、N3加压V3’,测得I3’和Φ3’可得: 

(V3’/I3’)sinΦ3’=x3+x1”=x3+(V30/V10)2x1           (3) 

式(1)、(2)、(3)相互独立,其中共三个未知量:x1、x2、x3,联解式(1)、(2)、(3)可分别解出x1、x2、x3。 

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