[发明专利]一种LCD抗冲击能力测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种LCD抗冲击能力测试方法，尤其涉及多轴向的LCD抗冲击能力测试方法。

背景技术

随着LCD应用越来越广泛，LCD的需求量也越来越大，但LCD的运输封装技术没有跟上需求量的发展从而导致LCD在生产、搬运和运输过程中很容易由于受冲击环境破坏，给企业造成不必要的损失，甚至是造成客户的流失。要解决上述的问题就需要一种能够测试出LCD经受冲击破坏的极限并知道LCD的抗冲击弱点在何处的测试方法，以便设计者能够从设计上进行有效的设计预防。

现有技术的测试方法是通过调整冲击平台高度以及铺设的缓冲垫来控制冲击速度和持续时间，现有技术虽然简单但是只能测出LCD的破坏极限不能够帮设计者找出LCD抗冲击的弱点。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于克服上述现有技术存在的不足，而提出一种LCD抗冲击能力测试方法，以解决现有技术中的LCD抗冲击能力测试方法不能测出LCD抗冲击的弱点的问题。

为解决上述技术问题，本发明提出一种LCD抗冲击能力测试方法，该测试方法包括：步骤a. 对测试样品进行预处理并调节冲击机台施放的半正弦波冲击的冲击能量至预设值；步骤b. 对测试样品的直角坐标轴±X、±Y和±Z六个轴向中的一个轴向施以半正弦波冲击；步骤c. 检测测试样品是否出现异常，若否进入步骤d；步骤d. 判断半正弦波冲击的冲击能量是否达到极限值，若是，进入步骤e，若否, 增加半正弦波冲击的冲击能量并回到步骤b；步骤e. 判断测试样品的六个轴向是否均已测试通过，若否，则改变测试样品接受半正弦波冲击的轴向并回到步骤a，若是，则判断测试样品合格。

优选地，在步骤c中，若是则进入步骤g，步骤g为直接记录测试结果。

优选地，步骤a的预设值为140G/2ms。

优选地，步骤d的极限值为冲击平台能承受的极限值。

优选地，冲击平台能承受的极限值为300G/2ms。

优选地，步骤a的预处理包括将测试样品固定在冲击平台上，使测试样品处于正常工作状态并记录测试样品的画面品质状况。

优选地，步骤c的检测测试样品具体包括：

对测试样品进行画面品质检查和/或将测试样品拆开对内部零部件性能及紧固度检查。

优选地，步骤g的测试结果具体包括测试过程和失效现象。

优选地，步骤d的增加半正弦波冲击的强度的具体步骤为以20G/2ms的变化幅度增加半正弦波冲击的冲击能量。

与现有技术相比，本发明的有益效果包括：本发明通过在不同的轴向上使用不同冲击能量的半正弦波冲击对LCD进行冲击，以LCD的显示状况和各部分结构是否出现异常来判断该部位是否存在设计缺陷实现了即能测出LCD的破坏极限又能够帮设计者找出LCD抗冲击的弱点的效果。

附图说明

图1为本发明实施例的LCD抗冲击能力测试方法的流程图。

图2为本发明实施例的冲击机台的结构示意图。

具体实施方式

为了进一步说明本发明的原理和结构，现结合附图对本发明的优选实施例进行详细说明。

请参阅图1，本发明提供一种LCD抗冲击能力测试方法，该方法包括

步骤a：对测试样品进行预处理并调节冲击机台施放的半正弦波冲击的冲击能量至预设值；

步骤a的预处理包括将测试样品固定在冲击平台上，使测试样品处于正常工作状态并记录测试样品的画面品质状况。步骤a的预设值为140G/2ms。

步骤a的目的是首先记录了测试前的样品的工作状态方便与测试后的样品状况进行比对，调节冲击能量至合适的预设值可以方便测试的进行以及确保后续测试的有效性，过高的预设值可能直接将测试样品冲坏，无法相对准确的知道样品的抗冲击极限，而过低的预设值可能会额外增加大量的测试次数，产生不必要的浪费。在本实施例中，预设值为140G/2ms，在其他实施例中，预设值可以根据测试样品的不同而设定成其他数值。

步骤b：对测试样品的直角坐标轴±X、±Y和±Z六个轴向中的一个轴向施以半正弦波冲击。 

步骤b的目的在于通过半正弦波冲击模拟测试样品在运输过程中的冲撞现象，对样品的抗冲击能力进行测试。

步骤c：检测测试样品是否出现异常；若是，则进入步骤g；若否，则进入步骤d。

步骤c的检测测试样品具体包括：对测试样品进行画面品质检查和/或将测试样品拆开对内部零部件性能及紧固度检查。