[发明专利]温度记录法测量的方法和装置

权利要求书

1.一种在设备（100）中用于确定远距离物体在多个温度测量点处的温度的方法，所述设备包含热图像传感器（106）和距离确定设备，所述热图像传感器（106）可操作成测量在远距离物体内的多个热测量点的来自所述物体的热辐射，所述距离确定设备包括图像传感器（104），其可操作成计算至所述远距离物体的、在所述远距离物体上的多个距离测量点处的距离，所述方法包含：

通过所述热图像传感器捕获热图像，所述热图像指示来自所述远距离物体上的所述多个热测量点中的每一个的热辐射量（406）；

通过所述图像传感器捕获来自所述远距离物体的反射光；

使用通过所述图像传感器捕获的所述反射光计算多个距离，每个距离指示从所述图像传感器至所述远距离物体上的一个明确的距离测量点的距离（404）；

结合来自所述热图像的数据和所述计算出的多个距离以便确定在所述远距离物体上的多个温度测量点处的温度（408）。

2.如权利要求1所述的方法，其中所述热图像和所述反射光被基本同时捕获。

3.如权利要求1或2所述的方法，其中所述远距离物体是移动物体，并且所述捕获、计算及结合步骤被连续重复以便记录所述远距离物体上的所述多个温度测量点的每一处随时间的温度变化。

4.如权利要求1-3的任何一项所述的方法，进一步包含：

接收使用者输入（402），所述使用者输入指定用于所述远距离物体的表面材料；和

其中处理所述热图像和所述多个距离包括在确定所述校正温度的过程中将用于所述表面材料的发射率考虑在内。

5.如权利要求1-4的任何一项所述的方法，进一步包含：

对通过所述图像传感器捕获的所述图像执行图像分析，以便确定所述远距离物体的类型；

基于所确定的远距离物体的类型，自动选择用于所述远距离物体的适当的表面材料；和

其中处理所述热图像和所述多个距离包括在确定所述校正温度的过程中将用于所述表面材料的发射率考虑在内。

6.如权利要求1-5的任何一项所述的方法，进一步包含：

利用调制光照亮所述远距离物体；和

在所述图像传感器中测量对于从所述远距离物体的离散位置处反射的光的传播时间。

7.如权利要求1-5的任何一项所述的方法，进一步包含：

透过被布置成将散斑图投射到所述远距离物体上的散射片、利用相干光照亮所述远距离物体；和

测量所述远距离物体上的所述散斑图的变化以便计算至所述远距离物体上的所述多个距离测量点的距离。

8.一种用于确定远距离物体在多个温度测量点处的温度的设备（100），所述设备包含：

热图像传感器（106），其可操作成测量来自远距离物体的、在所述物体上的多个热测量点处的热辐射，并且捕获热图像，所述热图像指示来自所述远距离物体上的所述多个热测量点中的每一个的热辐射量；

距离确定设备，所述距离确定设备包括图像传感器（104），其可操作成计算至所述远距离物体的、在所述远距离物体上的多个距离测量点处的距离，并且通过所述图像传感器捕获来自所述远距离物体的反射光；和

处理模块（114）可操作成：

使用通过所述图像传感器捕获的所述反射光计算多个距离，每个距离指示从所述图像传感器至所述远距离物体上的一个明确的距离测量点的距离，和

结合来自所述热图像的数据和所述计算出的多个距离，以便确定所述远距离物体上的多个温度测量点处的温度。

9.如权利要求8所述的设备，其中所述远距离物体是移动物体，并且其中所述热图像传感器、所述图像传感器及所述处理模块可操作成连续捕获热图像、计算距离及结合数据以便记录所述远距离物体上的所述多个温度测量点的每一处随时间的温度变化。

10.如权利要求8或9所述的设备，其中所述热图像传感器和所述图像传感器被设置在共同的外壳（102）内，所述共同的外壳进一步包括共同的光学系统（110），经过所述共同的光学系统的电磁辐射可操作成在它的从所述远距离物体分别至所述热图像传感器和所述图像传感器的路径上通过。