[发明专利]用于检测多重回波和底部回波的方法

权利要求书

1.一种用于确定容器内的物位位置和/或分离层位置的物位测量设备，所述物位测量设备包括：

回波曲线检测单元，用于检测回波曲线；

回波识别单元，用于在所述回波曲线中识别至少两个回波；以及

速度检测单元，用于检测所述至少两个回波的速度值；

其中，所述物位测量设备被配置成将所识别回波中的一个回波假定为物位回波，接着，通过考虑所检测到的速度值的比值的符号对至少一个其他回波进行回波分类，

其中，所述回波分类将所述回波曲线中的至少两个所识别的回波分配以选自包括如下特征类别的组中的特征类别：底部回波、多重回波、反相关性回波和物料回波。

2.根据权利要求1所述的物位测量设备，还包括：

统计单元，所述统计单元用于评估至少两个回波的共享特征的统计特性，所述共享特征为所述至少两个回波中的两个回波的所检测到的速度值的比值；

其中，所述物位测量设备被配置成对所述回波曲线中的至少两个所识别的回波进行回波分类，作为评估所识别的回波的共享特征的统计特性的结果。

3.根据前述权利要求中任一项所述的物位测量设备，还包括：

跟踪单元，所述跟踪单元将所识别的回波置于与之前识别的回波的逻辑关系中；以及

所述跟踪单元在所述回波曲线中缺失回波的情况下估计所述回波的可能位置。

4.根据前述权利要求中任一项所述的物位测量设备，

其中，所述统计单元确定至少一对所识别的回波的特征。

5.根据权利要求2至4中任一项所述的物位测量设备，

其中，所述统计单元将所述回波分类表示为直方图，在所述直方图中，每个可能的特征类别被分配一个概率，该概率表示相应的回波属于相应的特征类别的统计概率有多大。

6.根据前述权利要求中任一项所述的物位测量设备，

所述物位测量设备被配置成使得通过检测和评估另外的回波曲线来确认或修改所述回波分类。

7.根据前述权利要求中任一项所述的物位测量设备，

所述物位测量设备被配置成用于同时识别多重回波和底部回波。

8.一种用于确定容器内的物位位置和/或分离层位置的方法，所述方法包括如下步骤：

检测回波曲线；

在所述回波曲线中识别至少两个回波；

检测所述至少两个回波的速度值；

将所述至少两个回波中的一个回波假定为物位回波；以及

通过考虑所检测到的速度值的比值的符号对至少一个剩余回波进行回波分类；

其中，所述回波分类将所述回波曲线中的至少两个所识别的回波分配以选自包括如下特征类别的组中的特征类别：底部回波、多重回波、反相关性回波和物料回波。

9.根据权利要求8所述的方法，还包括如下步骤：

(a1)在所述回波曲线中识别多个回波；以及

(b)对所述回波曲线中的至少两个回波进行回波分类，作为评估所识别的回波的共享特征的统计特性的结果；

其中，所述回波分类将所述回波曲线中的至少两个所识别的回波分配以选自包括如下特征类别的组中的特征类别：底部回波、多重回波、反相关性回波和物料回波。

10.根据权利要求8或9所述的方法，还包括如下步骤：

将所识别的回波中的另一个回波假定为所述物位回波；

对至少一个剩余回波进行回波分类；

其中，每个回波分类包括对至少一个另外的所识别的回波进行分类并且计算正确分类的相应概率。

11.根据权利要求8至10中任一项所述的方法，还包括如下步骤：

通过检测另外的回波曲线并执行至少步骤(a1)和(b)以及适应性修改正确分类的相应概率来确认或修改所述回波分类。