[发明专利]应用ZnO量子点进行荧光防伪的方法无效
申请号: | 201210168204.7 | 申请日: | 2012-05-28 |
公开(公告)号: | CN102703061A | 公开(公告)日: | 2012-10-03 |
发明(设计)人: | 许小勇;庄申栋;张业伟;胡经国 | 申请(专利权)人: | 扬州大学 |
主分类号: | C09K11/54 | 分类号: | C09K11/54;C09K11/02;C09D11/16 |
代理公司: | 扬州苏中专利事务所(普通合伙) 32222 | 代理人: | 许必元 |
地址: | 225009 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 应用 zno 量子 进行 荧光 防伪 方法 | ||
1.一种应用ZnO量子点进行荧光防伪的方法,其特征在于包括以下步骤:
(1)制备ZnO量子点;
(2)通过深紫外光照射ZnO量子点验证荧光性能;
(3)用经验证的ZnO量子点标记物品进行防伪。
2.根据权利要求1所述的应用ZnO量子点进行荧光防伪的方法,其特征在于:所述步骤(1)中制备ZnO量子点的过程如下:
(1)将Zn(CH3COO)2·2H2O加入到绝对乙醇中,升温至80℃并进行 2小时的快速搅拌,再降温至0 ℃,生成[Zn]离子浓度为0.1 摩尔/升的醋酸锌乙醇溶液;
(2)将LiOH·H2O加入到绝对乙醇中,进行20分钟的超声溶解,生成[OH]离子浓度为0.1-0.4摩尔/升的氢氧化锂乙醇溶液;
(3)将氢氧化锂乙醇溶液逐滴加入到醋酸锌乙醇溶液中,快速搅拌3小时,生成ZnO量子点平均直径为2-10纳米的ZnO量子点溶液;
(4)通过离心或者加入过量的正庚烷清洗和沉淀ZnO量子点,使ZnO量子点重新分散在绝对乙醇中,将温度降到0 ℃以下保存ZnO量子点。
3.根据权利要求2所述的应用ZnO量子点进行荧光防伪的方法,其特征在于:所述过程(3)中ZnO量子点的平均直径通过Zn(CH3COO)2·2H2O和LiOH·H2O的摩尔比进行控制,摩尔比取值范围为1:1-1:4。
4.根据权利要求2所述的应用ZnO量子点进行荧光防伪的方法,其特征在于:所述过程(4)中的ZnO量子点未被立即用于荧光防伪时,还需对ZnO量子点进行包裹处理。
5.根据权利要求4所述的应用ZnO量子点进行荧光防伪的方法,其特征在于:采用SiO2或PVP对ZnO量子点进行包裹处理。
6.根据权利要求1所述的应用ZnO量子点进行荧光防伪的方法,其特征在于:所述步骤(2)中深紫外光的波长小于300纳米。
7.根据权利要求1所述的应用ZnO量子点进行荧光防伪的方法,其特征在于:所述步骤(3)中采用502胶与ZnO量子点混合物标记物品进行防伪。
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