[发明专利]微孔膜孔隙率测量方法

权利要求书

1.一种微孔膜孔隙率测量方法，将α射线通过待测微孔膜（2），通过α射线能谱确定通过待测微孔膜（2）而无能量损失部分的α粒子计数率N₁，以及α射线总的α粒子计数率N，则微孔膜的孔隙率η为

η= N₁/N，

η的单位是%；N₁和N的单位是s^-1。

2.根据权利要求1所述的微孔膜孔隙率测量方法，其特征在于：所述的微孔膜（2）既可以是重离子微孔膜或核孔膜，也可以是近似垂直孔道的塑料纤维膜或无机材料膜。

3.根据权利要求1所述的微孔膜孔隙率测量方法，其特征在于：所述的α射线总的α粒子计数率N在未放置待测微孔膜（2）前通过测量α射线能谱而得到。

4.根据权利要求1或3所述的微孔膜孔隙率测量方法，其特征在于：在待测微孔膜（2）的两侧各设置一个α射线探测器，根据各自测得的α射线能谱确定α射线总的α粒子计数率N，以及通过待测微孔膜（2）而无能量损失部分的α粒子计数率N₁。

5.根据权利要求1所述的微孔膜孔隙率测量方法，其特征在于：通过α射线能谱确定通过待测微孔膜（2）而无能量损失部分的α粒子计数率N₁，以及通过待测微孔膜（2）而有能量损失部分的α粒子计数率N₂，则

η= N₁/（N₁+N₂），

N₂的单位是s^-1。

6.根据权利要求1、3或5所述的微孔膜孔隙率测量方法，其特征在于：N₁、N₂和N通过使用甄别器与定标器配合测量得到，或者通过多道分析器测量得到。

7.根据权利要求4所述的微孔膜孔隙率测量方法，其特征在于：N₁和N通过使用甄别器与定标器配合测量得到，或者通过多道分析器测量得到。