[发明专利]硅电容器内部多层电极连接结构及连接方法有效

专利信息
申请号: 201210165420.6 申请日: 2012-05-25
公开(公告)号: CN102683318A 公开(公告)日: 2012-09-19
发明(设计)人: 陈杰;唐剑平;雷鸣;陈立军 申请(专利权)人: 无锡纳能科技有限公司
主分类号: H01L23/522 分类号: H01L23/522;H01L21/768
代理公司: 无锡市大为专利商标事务所 32104 代理人: 曹祖良
地址: 214072 江苏省无锡市滨湖区蠡*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 电容器 内部 多层 电极 连接 结构 方法
【权利要求书】:

1.一种硅电容器内部多层电极连接结构,包括衬底(1);其特征是:所述衬底(1)的表面上形成第一内部电极层,所述第一内部电极层的上方设有若干交替分布的奇数电极层(4)与偶数电极层(5),且奇数电极层(4)与偶数电极层(5)在衬底(1)上方匹配对应;奇数电极层(4)与偶数电极层(5)间设置有介质层(3),且第一内部电极层与邻近的奇数电极层(4)间通过介质层(3)相连;所述衬底(1)上方设有互连电极,所述互连电极包括第一金属外电极(12)及第二金属外电极(14),所述第一金属外电极(12)与奇数电极层(4)及第一内部电极层等电位连接,第二金属外电极(14)与偶数电极层(5)等电位连接,第一金属外电极(12)与第二金属外电极(14)绝缘隔离。

2.根据权利要求1所述的硅电容器内部多层电极连接结构,其特征是:所述衬底(1)上方最外层的偶数电极层(5)上覆盖有绝缘介质层(6);衬底(1)的上方设有奇数层连接孔(7)及偶数层连接孔(8),奇数层连接孔(7)内填充有奇数层连接线(10),且奇数层连接线(10)覆盖于绝缘介质层(6)上;偶数层连接孔(8)内填充有偶数层连接线(13),且偶数层连接线(13)覆盖于绝缘介质层(6)上;第一金属外电极(12)与奇数层连接线(10)欧姆接触,以通过奇数层连接线(10)与第一内部电极层及奇数电极层(4)等电位连接;第二金属外电极(14)与偶数层连接线(13)欧姆接触,以通过偶数层连接线(13)与偶数电极层(5)等电位连接;第一金属外电极(12)、奇数层连接线(10)通过绝缘隔离层(11)与第二金属外电极(14)、偶数层连接线(13)绝缘隔离。

3.根据权利要求1所述的硅电容器内部多层电极连接结构,其特征是:所述衬底(1)采用P型导电类型的硅,通过在P型衬底(1)表面掺杂N型杂质形成第一内部电极层。

4.根据权利要求1所述的硅电容器内部多层电极连接结构,其特征是:所述衬底(1)内设有若干凹槽(2),第一内部电极层、介质层(3)及奇数电极层(4)与偶数电极层(5)依次覆盖于凹槽(2)内。

5.根据权利要求1所述的硅电容器内部多层电极连接结构,其特征是:所述奇数电极层(4)与偶数电极层(5)均为导电多晶硅。

6.根据权利要求1或2或5所述的硅电容器内部多层电极连接结构,其特征是:所述奇数电极层(4)、偶数电极层(5)的厚度为500nm~800nm。

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