[发明专利]光度计和操作方法在审
申请号: | 201210164527.9 | 申请日: | 2007-07-26 |
公开(公告)号: | CN102768185A | 公开(公告)日: | 2012-11-07 |
发明(设计)人: | G·弗里曼;T·阿尔梅特 | 申请(专利权)人: | 阿瓦尼斯实验室科技公司 |
主分类号: | G01N21/25 | 分类号: | G01N21/25;G01N21/76 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 周心志;谭祐祥 |
地址: | 美国佛*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光度计 操作方法 | ||
本申请是申请号为200780037055.8、申请日为2007年7月26日、发明名称为“光度计和操作方法”的发明专利申请的分案申请。
技术领域
本发明关于一种光度计,该光度计适合于快速分析多个小容量样本,尤其是在医疗分析领域中。本发明还涉及操作的方法,以使用光度计获得多个分析测量值。
背景技术
公知的光度计允许测量在包含于盘中的样本的化学反应期间所发射的光,该盘被称为微量滴定井或盘。已经开发了系统来检验样本实例,比如血样,例如在试管盘或微孔板中把试剂添加到样本中。试剂分子与样本中的某些成分反应且联接到该某些成分上。通常移去样本的剩余部分且进一步添加比如基质的试剂以引起束缚分子的部分发冷光。试剂的反应时间通常是试验的重要参数,且在反应样本为发光探测做好准备之前需要在严格的时限中孵化。所发射光的强度和光谱分布表示用于试验的样本成分的浓度。在应用到探测器之前光发射可以穿过光谱过滤器被供给。因此,知道样本实例类型、试剂类型和因此产生的谱图,就可以确定某些化学物质的在样本实例中的存在。可以在分离室中用不同的试剂进行分离试验以试验样本中的其它组分。在化学反应中的最后步骤处光度计探测且量化光发射。测量值与分析物是成比例的,因此能够使用该测量值做定量分析。使用光(也称为化学发光)的优点在于增加灵敏度。当在寻找肿瘤标记物、某种荷尔蒙和毒素、污染物或药物的存在时,这种方法尤其有益。
还公知的是,希望最小化进入光度计的测量区域中的背景光的量。通过最小化背景光的来自描述样本的组分浓度的发冷光信号的量,可以精炼分析结果。
在许多环境中,需要高效进行样本试验以每小时处理许多样本。已经研发了用于处理大量样本的复杂系统,但是这些系统昂贵、巨大、难于使用,且对许多环境不适用。正确校准系统在获得正确结果方面也是重要的,并且希望提供一种系统,该系统提供自校准以确保正确操作。希望提供可以克服在现有技术的装置中的这些限制的系统。
发明内容
本发明的一个方面在于通过提供一种系统来克服现有技术的光度计的缺点,为了以简单且有效的方式检验多个样本该系统提供了一种简单布置。本发明提供了增加的范围和灵敏度,特别地,本发明在CLIA(化学发光免疫分析法)中是有用的。光度计允许CLIA微带读取,并且对任何规模的实验室(不只是大规模的实验室)都是有用的。光度计以每带多个井的方式读取打散(break-apart)井,且立刻和自动地计算结果。系统可以允许使用者编程许多种的辉光型CLIA,其中能够存储试验以易于唤回。系统的处理能力可以提供点对点、线性和对数回归以及对数分对数(log logit)模式。而且,本发明的一个方面在于提供具有校准系统的光度计,以用于维持系统在随之的测量中的正确操作。此外,本发明的方面涉及提供允许紧凑和有效的系统设计的光发射系统。进一步,本发明的方面涉及在装置的操作中消除光的交叉污染的能力。本发明的光度计是独立的(self-contained)3带CLIA(化学发光免疫分析法)仪器。微带包含指定用于坯料(blank)、校准器、控制器和样本的井。光度计测定度数(一个井接一个井地),然后基于校准器表达分析物的浓度。
根据本发明的光度计包括具有内部的壳体,穿过保护盖可以接近内部。把光子测量和探测系统提供在壳体中。光轨设置在壳体中的支撑件上,承载器与该壳体成接口连接。承载器具有随其提供的多个井,其中为了从那里测量光子选择性地把每一个井都定位在与探测系统关联的预定测量位置处。提供驱动系统以选择性地沿着光轨移位承载器,这是选择性地在X方向和Y方向上移动承载器的轨道凹槽的系统,以选择性地把每一个井都定位在测量位置中的承载器中。光度计可以包括用于放大和数字化数据以及用于处理数据的适当处理系统。光度计可以进一步包括用于自动校准探测系统的参考光源。还可以提供用于确保承载器的在光轨系统中的正确定位的承载器位置探测系统。
根据本发明的一个方面,提供了一种校准系统,该校准系统包括被定位的参考光源以把光发射到扩散器(diffuser)中。定位光探测器以测量从扩散器所发射的光,由此产生与探测系统关联的参考光信号。此后,把参考光信号与随后从相同的参考光源所探测的光做比较,以便允许生成用于在参考光源的当前测量值和参考光信号之间的任何探测误差的校准因数。
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