[发明专利]一种零电流检测电路和方法、及电压变换电路无效
申请号: | 201210163278.1 | 申请日: | 2012-05-19 |
公开(公告)号: | CN103424605A | 公开(公告)日: | 2013-12-04 |
发明(设计)人: | 李茂旭;李东 | 申请(专利权)人: | 快捷半导体(苏州)有限公司 |
主分类号: | G01R19/175 | 分类号: | G01R19/175;H02M3/10 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理事务所(普通合伙) 11270 | 代理人: | 武晨燕;程立民 |
地址: | 215021 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电流 检测 电路 方法 电压 变换 | ||
1.一种零电流检测电路,其特征在于,该电路包括:补偿电路、检测电路,其中,
补偿电路,配置为根据直流-直流(DC-DC)变换电路的输出电压反馈补偿电压至检测电路;
检测电路,配置为根据所述补偿电压动态调整故作失调电压(Voffset),按照调整后的Voffset对所述DC-DC变换电路进行零电流检测。
2.根据权利要求1所述的零电流检测电路,其特征在于,所述补偿电路,具体配置为所述DC-DC变换电路为降压(BUCK)电路时,将BUCK电路的输出电压作为补偿电压反馈至检测电路。
3.根据权利要求2所述的零电流检测电路,其特征在于,所述补偿电路包括:PMOS(P31)、PMOS(P32)、PMOS(P33)、开关(S31)、开关(S32)、开关(S33)、电流源(Q31)、NMOS(N31)、NMOS(N32)、电阻(R31)、电阻(R32),其中,PMOS(P31)、PMOS(P32)为共源共栅连接,源极均连接BUCK电路的输入电压Vin,PMOS(P31)的漏极与源极相连,并连接NMOS(N31)和NMOS(N32)的漏极;PMOS(P32)的漏极通过开关(S31)连接Voffset;PMOS(P33)的栅极连接NMOS(N31)的源极和NMOS(N32)的栅极,并连接BUCK电路的输出电压Vout,漏极接地,源极连接电流源(Q31)的负极和NMOS(N31)的栅极;NMOS(N31)的源极连接电阻(R31);NMOS(N32)的源极连接电阻(R32);电流源(Q31)的正极连接输入电压Vin;电阻(R31)对地连接有开关(S32);电阻(R32)对地连接有开关(S33)。
4.根据权利要求3所述的零电流检测电路,其特征在于,所述检测电路包括:开关(S34)、开关(S35)、开关(S36)、开关(S37)、PMOS(P34)、PMOS(P35)、PMOS(P36)、NMOS(N33)、NMOS(N34)、NMOS(N35)、NMOS(N36)、电流源(Q32)、电容(CS31),其中,开关(S34)一端连接开关节点(SW),另一端连接电容(CS31)负极和开关(S35);开关(S35)另一端接地;电容(CS31)正极连接PMOS(P34)和NMOS(N33)的栅极;PMOS(P34)的源极连接电流源(Q32)的负极,漏极与NMOS(N33)的漏极连接,并连接PMOS(P35)和NMOS(N35)的栅极;电流源(Q32)的正极连接输入电压Vin;NMOS(N33)的源极连接补偿电路和NMOS(N34)的漏极,并对地连接开关(S37),栅极和漏极之间连接开关(S36);NMOS(N34)的漏极电压为Voffset,NMOS(N34)的源极接地,栅极接输入电压Vin;PMOS(P35)和NMOS(N35)、PMOS(P36)和NMOS(N36)分别连接成两个反相器,PMOS(P36)和NMOS(N36)的漏极为零电流检测电路的输出端。
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