[发明专利]温度测量方法有效
申请号: | 201210161611.5 | 申请日: | 2012-05-23 |
公开(公告)号: | CN102706465A | 公开(公告)日: | 2012-10-03 |
发明(设计)人: | 刘进;张金刚;杜勇;吴剑波;何水桥;徐勇 | 申请(专利权)人: | 中昊晨光化工研究院 |
主分类号: | G01K1/08 | 分类号: | G01K1/08 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 韩国胜 |
地址: | 643201 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 温度 测量方法 | ||
技术领域
本发明涉及温度测量,特别是涉及一种用于对具有高温、高腐蚀性、剧毒等性质的介质进行温度测量的方法。
背景技术
等离子焚烧炉中所处理的介质大多具有高温、高腐蚀或剧毒等特性,在等离子焚烧炉对这些介质进行高温焚烧处理时,需要将等离子焚烧炉内的温度控制在预定的范围内,以实现对介质的有效处理。对等离子焚烧炉内的温度进行控制时,首先需要对等离子焚烧炉内的温度进行测量,但是基于介质的高温、高腐蚀性或剧毒等特性,不能直接对这些介质进行温度测量,可能会影响等离子焚烧炉内温度的有效控制。
发明内容
(一)要解决的技术问题
本发明要解决的技术问题是如何实现对具有高温、高腐蚀性或剧毒等特性介质的等离子焚烧炉内的温度进行有效测量。
(二)技术方案
为了解决上述技术问题,本发明提供一种温度测量方法,其包括以下过程:在容置待测温目标的容器外部贴附一层测量介质,并在所述测量介质内壁和所述容器外壁之间设置第一温度传感器;所述测量介质外壁上设置有第二温度传感器,根据所述第一温度传感器和第二温度传感器所测得的温度,结合所述容器材质及测量介质的热扩散率,获得所述容器内待测温目标的温度。
其中,所述待测温目标的温度t3的计算模型为:
其中,t1和t2分别为测量介质外壁和内壁的温度值,D1和D2分别为所述容器和测量介质的壁厚,λ1和λ2分别为所述容器材质和测量介质的热扩散率。
其中,所述测量介质选用与所述容器相同的材质。
其中,所述测量介质的壁厚与所述容器的壁厚相同。
其中,所述第一温度传感器和第二温度传感器所在的位置与所述容器内的待测温点位于同一水平面上。
其中,所述容器为等离子焚烧炉。
(三)有益效果
上述技术方案所提供的温度测量方法,采用间接外推的方式,能够解决高温度、高腐蚀且有毒环境下一般温度测量不能解决的问题,并且也降低了对测量仪器的要求,结构简单,节约成本。
附图说明
图1是本发明实施例的温度测量方法中等离子焚烧炉及测量介质的布置示意图。
其中,1:测量介质;2:等离子焚烧炉。
具体实施方式
下面结合附图和实施例,对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明,但不用来限制本发明的范围。
本实施例所提供的温度测量方法包括以下过程:在容置待测温目标的容器外部贴附一层测量介质,并在所述测量介质内壁和所述容器外壁之间设置第一温度传感器;所述测量介质外壁上设置有第二温度传感器,根据所述第一温度传感器和第二温度传感器所测得的温度,结合所述容器材质及测量介质的热扩散率,获得所述容器内待测温目标的温度。其中,容置待测温目标的容器可以为任意不便于直接进行容器内温度测量的结构,优选处于高温、具有高腐蚀性或剧毒的容器,如等离子焚烧炉。
图1示出了本实施例温度测量方法中等离子焚烧炉及测量介质的布置示意图,根据图示,所述待测温目标的温度t3的计算模型为:
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