[发明专利]双倍速率同步动态随机存储器稳定性测试的方法及系统

说明书

技术领域

本发明涉及存储器测试技术领域，特别是涉及双倍速率同步动态随机存储器稳定性测试的方法及系统。

背景技术

双倍速率同步动态随机存储器（DDR，Double Data Rate）是由日本电气、三菱、富士通、东芝、日立、德州仪器、三星及现代等八家公司协议订立的内存规格。由于这种存储器在时钟信号的上升沿与下降沿均可进行数据处理，因此它可以使数据传输率达到同步动态随机存储器（SDRAM，Synchronous Dynamic Random Access Memory）的两倍。而DDR的寻址与控制信号则与SDRAM相同，仅在时钟上升沿传送。

由于在时钟信号的上升沿与下降沿均可进行数据处理，因此DDR的核心频率很高。以DDR3为例，目前主流的核心频率为400MHz到800MHz，这也造成了DDR的稳定性不足。一旦DDR在工作时出现不稳定的情况，就会导致单板运行业务时出现问题，甚至出现死机等情况。因此，在单板大批量生产之前，一般都需要做DDR稳定性测试来验证DDR在恶劣的环境下能否保持稳定工作。

现有的对DDR进行的稳定性测试的方法通常为：使单板运行较复杂的业务场景并进行高低温拷机，观察单板工作是否异常。具体的，控制单板运行在复杂业务场景，业务数据发送模块通过AXI总线向DDR控制器发送复杂业务所对应的业务数据，DDR控制器针对该业务数据对DDR颗粒进行频繁反复的读操作和写操作。当DDR时序配置不佳或单板设计有缺陷时会导致DDR不稳定，从而使得DDR在读写过程中出现数据出错或地址出错情况。利用DDR在读写过程中是否出现数据出错或地址出错的情况，就可以进行对DDR的稳定性测试。

然而，现有的对DDR进行稳定性测试的方法具有如下缺点：

1、由于业务数据的测试需要，现有的测试方法必须对包括DDR在内的单板进行测试，由于单板内还包括其他元件，因此当DDR在读写过程中出现数据出错或地址出错时，并不能定位就是DDR不稳定所造成的。

2、由于DDR能够承受的工作压力越大，其稳定性就越高。因此在测试过程中，需要尽量给DDR造成非常大的工作压力。但是使用复杂业务数据对DDR进行测试并不一定会对DDR造成非常大的工作压力，这也使得测试结果的准确性降低。

3、为了使DDR工作在严酷的工作环境下，现有的测试方法还对DDR进行拷机，但由于拷机过程需要较长的时间，因此现有的测试方法无法在短时间内得到测试结果。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明实施例提供一种双倍速率同步动态随机存储器稳定性测试的方法及系统，以解决现有测试方法存在的定位精度不足、测试结果准确性低和测试时间长的问题，技术方案如下：

一种双倍速率同步动态随机存储器DDR稳定性测试的方法，包括：

根据预先设定的测试模式，使用随机同步噪声码流，通过缓冲区对DDR进行稳定性测试；

确定所述缓冲区和所述DDR中当前的随机同步噪声码流；

判断所述DDR中当前的随机同步噪声码流与所述缓冲区中当前的随机同步噪声码流是否匹配，生成判断结果并根据所述判断结果生成DDR稳定性测试结果。

一种双倍速率同步动态随机存储器DDR稳定性测试的系统，包括：缓冲区、测试单元、测试码确定单元和测试结果生成单元，所述测试单元通过所述缓冲区与DDR连接，所述测试码确定单元分别与所述缓冲区、所述DDR连接，所述测试结果生成单元与所述测试码确定单元连接，

所述测试单元，用于根据预先设定的测试模式，使用随机同步噪声码流，通过所述缓冲区对所述DDR进行稳定性测试；

所述测试码确定单元，用于确定所述缓冲区和所述DDR中当前的随机同步噪声码流；

所述测试结果生成单元，用于判断所述DDR中当前的随机同步噪声码流与所述缓冲区中当前的随机同步噪声码流是否匹配，生成判断结果并根据所述判断结果生成DDR稳定性测试结果。

通过应用以上技术方案，本发明提供的一种双倍速率同步动态随机存储器稳定性测试的方法及系统，可以根据预先设定的测试模式，使用随机同步噪声码流，通过缓冲区对DDR进行稳定性测试并生成测试结果。由于随机同步噪声码流与业务数据相比可以给DDR带来更大的工作压力，因此本发明可以有效提高DDR稳定性测试的有效性。另一方面，本发明的测试方法不用再进行高低温拷机，可以在短时间内完成测试，提高了测试效率。

附图说明