[发明专利]一种唇腭裂易感基因检测芯片及检测方法

权利要求书

1.一种唇腭裂易感基因检测芯片，所述芯片包括基片和位于基片上的核酸探针，其特征在于：核酸探针包括核酸序列为SEQ N0.1-38的核苷酸序列，所述探针的3’端进行氨基修饰。

2.按权利要求1所述的唇腭裂易感基因检测芯片，其特征在于：所述芯片还包括阳性对照、阳性探针和阴性对照。

3.一种权利要求1所述的唇腭裂易感基因检测方法，其特征在于：提取待检验的DNA，使用引物对进行PCR扩增；扩增产物再经延伸，延伸时加入混有CY3-dCTP的dNTP底物，延伸产物与所述唇腭裂易感基因检测芯片杂交；通过检测芯片上CY3的信号值来检测芯片杂交的结果。

4.按权利要求3所述唇腭裂易感基因检测方法，其特征在于：所述PCR扩增所采用的引物为SEQ N0.76-101中的核苷酸序列和延伸引物核酸序列为SEQ N0.39-75的核苷酸序列所示。

5.按权利要求1所述唇腭裂易感基因检测方法，其特征在于：所述唇腭裂易感基因检测芯片在检测唇腭裂易感基因中的应用。