[发明专利]多通道原子荧光光度计道间干扰消除电路

说明书

技术领域

本发明涉及一种多通道原子荧光光度计道间干扰消除电路，属于分析仪器设计技术领域。

背景技术

原子荧光光度计利用原子荧光谱线的波长和强度进行物质定性及定量的检测方法，是一种优良的痕量分析仪器。它由进样系统、氢化物发生系统、原子化器、光学系统、光电检测器、模拟电路、耦合电容C以及模拟和数字信号处理系统组成（见图1），具有检出限低、灵敏度高、分析曲线线性范围宽等优点。在现有分析技术中，原子荧光光度计已广泛应用于冶金、地质、石油、农业、生物医学、地球化学、材料科学、环境科学等多个领域，主要用于检测Ge、Hg、As、Sb、Se、Te、Bi、Sn、Zn、Pb、Cd等元素。

原子荧光光度计设计的基本原理是原子蒸汽吸收特征波长的光辐射之后，原子被激发至高能级，激发态原子接着以辐射方式去活化，由高能级跃迁到较低能级的过程中发射一定波长的原子荧光。当激发光源停止照射之后，发射荧光的过程随即停止。根据荧光谱线的波长可以进行定性分析。在一定实验条件下，荧光强度与被测元素的浓度成正比。据此可以进行定量分析。

多通道原子荧光光度计是用同一检测器，同一数据处理系统对多种元素同时进行测定。在多通道原子荧光光度计的设计中，多道检测信号由电容耦合到数据处理系统，数据处理系统中各通道处理是相互独立的，避免了通道间的干扰。但由于电容记忆效应，多道检测信号会在耦合电容处产生干扰，造成检测信号测量结果的失真，影响了分析仪器的准确性。

分析仪器的道间干扰是检验仪器的重要指标，也是分析仪器在实际应用的基本要求。现有商用原子荧光仪器的道间干扰很难达到国家标准规定的2%指标。大多数厂家采用扣除方法，对干扰进行扣除，实现手段较为复杂，而且操作不便；还有厂家采用加长激发光源的控制周期的方法，虽然能够达到效果，但对于消除道间干扰只是治标不治本。

发明内容

本发明的目的是为了解决现有多通道原子荧光光度计由于电容记忆效应，多道检测信号会在耦合电容处产生干扰，造成检测信号测量结果的失真，影响了分析仪器的准确性问题，进而提供一种多通道原子荧光光度计道间干扰消除电路。

本发明的目的是通过以下技术方案实现的：

一种多通道原子荧光光度计道间干扰消除电路，方案一包括：模拟和数字信号处理系统、耦合电容、电阻和受控开关，所述耦合电容的输出端分别与模拟和数字信号处理系统的输入端以及电阻的一端相连接，电阻的另一端与受控开关串联且接地，模拟和数字信号处理系统的输出端输出时序控制信号至受控开关。方案二包括：模拟和数字信号处理系统、耦合电容、电阻、受控开关，所述电阻和受控开关串联连接且并联在耦合电容的两端，即电阻的一端与耦合电容的输出端相连接，受控开关的一端与耦合电容的输入端相连接，模拟和数字信号处理系统的输入端与耦合电容的输出端相连接，模拟和数字信号处理系统的输出端输出时序控制信号至受控开关。

本发明在信号通过耦合电容的时间内，受控开关在控制脉冲作用下断开，使信号能够耦合到模拟和数字信号处理系统；在下一通道信号进来之前，受控开关在控制脉冲作用下闭合，使得耦合电容能通过电阻快速放电，去除耦合电容存储的当前通道信号，消除了对下一通道信号的影响。本发明结构简便，易于实现，可以完全消除道间干扰现象，保证了分析仪器测量的准确性和稳定性。

附图说明

图1是现有原子荧光光度计连接结构示意图；

图2是第一种多通道原子荧光光度计道间干扰消除电路的连接结构示意图；

图3是第二种多通道原子荧光光度计道间干扰消除电路的连接结构示意图。

具体实施方式

下面将结合附图对本发明做进一步的详细说明：本实施例在以本发明技术方案为前提下进行实施，给出了详细的实施方式，但本发明的保护范围不限于下述实施例。

如图2所示，本实施例所涉及的第一种多通道原子荧光光度计道间干扰消除电路，包括：模拟和数字信号处理系统、耦合电容C、电阻R、受控开关S，所述耦合电容C的输出端分别与模拟和数字信号处理系统的输入端以及电阻R的一端相连接，电阻R的另一端与受控开关S串联且接地，模拟和数字信号处理系统的输出端输出时序控制信号至受控开关S。