[发明专利]一种确定材料在不同应力比下的Paris参数C和m的方法无效

专利信息
申请号: 201210155421.2 申请日: 2012-05-18
公开(公告)号: CN102645366A 公开(公告)日: 2012-08-22
发明(设计)人: 许天旱 申请(专利权)人: 西安石油大学
主分类号: G01N3/00 分类号: G01N3/00
代理公司: 西安西达专利代理有限责任公司 61202 代理人: 第五思军
地址: 710065 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 确定 材料 不同 应力 paris 参数 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及材料疲劳裂纹扩展性能确定技术领域,具体涉及一种确定材料在不同应力比下Paris参数Cm的方法。主要应用于确定材料材料疲劳裂纹扩展性能。

背景技术

在研究套管钻井钢的疲劳裂纹扩展性能过程中发现,Paris参数C并非为常数,而是受到应力比的显著影响。m值相对比较稳定。而套管在钻井过程中由于井况复杂,诸如岩石、粘土层等等,都会导致应力比发生变化,从而导致裂纹扩展速率发生变化,使得Paris公式应用受到局限性。尽管1971年,W.Elber 对Paris公式:

进行了修正定义如下

其中da/dN 为疲劳裂纹扩展速率(m/cycle),Ceffmeff是材料常数;

提出了有效应力强度因子的概念,但没有广泛应用到工程实践中去。主要是因为观察到了裂纹闭合效应现象,但没有在各个参量之间建立定量关系。

发明内容

为了克服现有技术的不足,本发明的目的是提供一种确定材料在不同应力比下的Paris参数Cm的方法,具有方法简单,不需要添加设备,精度高,适用范围广的特点。

为了实现上述目的,本发明采用的技术方案是:一种确定材料在不同应力比下的Paris参数C和m的方法,包括如下步骤:

第一、在双对数坐标系中绘制材料在不少于四种不同应力比下的lgda/dn-lg△K曲线,根据下式求取不少于四种不同应力下的Paris参数C和m;

                                               

上式中,da/dN为疲劳裂纹扩展速率(m/cycle);

第二、基于上表中的应力比和Paris 参数/×10-13 ,利用最小二乘法获得应力比和C之间的关系式,C=f(R);

式中:C为Paris参数,R为应力比;

第三、基于以下公式将不同应力比下的△K转换为△Keff

Keff=△K ()   

上式中,△Keff为有效应力强度因子范围(MPa·m1/2);△K为应力强度因子范围(MPa·m1/2);R为应力比;

第四、将所有的△Keff按照从小到大次序排列,△K对应的疲劳裂纹扩展速率不变,然后在双对数坐标系中绘制一条曲线;

第五、基于如下公式求取材料参数Ceff 和meff

  

其中,Ceffmeff是材料常数;da/dN为疲劳裂纹扩展速率(m/cycle);

第六、根据第二步中的公式和Ceff ,建立C,CeffR之间的关系式,如下所示: C=CeffAlnRB );

式中B为常数;

第七、根据应力比RCeff及常数A和常数B,求得任何应力比下的Paris参数C,根据meff 取任意应力比下的Paris 参数m 为meff,根据Paris公式计算不同应力比下,不同△K对应的疲劳裂纹扩展速率。

本发明的有益效果是:

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