[发明专利]一种二维位移测量装置与测量方法

权利要求书

1.一种二维位移测量装置，其特征在于该装置由带刻度的测量杆（1）、带刻度的第一滑块（2）和第二滑块（3）、带有细绳的小吊锤（4）所制成；其中带刻度的测量杆（1）的末端固定在构件或墙体（7）上，第一滑块（2）和第二滑块（3）通过其上的凹槽分别套在测量杆（1）上，带有细绳的小吊锤（4）的细绳另一端分别穿过第一滑块（2）上的圆孔（5）和第二滑块(3)上的圆孔（6）后固定在第二滑块（3）上。

2.根据权利要求1所述的二维位移测量装置，其特征在于所述的带刻度的测量杆（1）为方形，测量杆上的刻度位于方形测量杆顶面，0刻度线在方形测量杆首端，最小分度值为1毫米。

3.根据权利要求1所述的二维位移测量装置，其特征在于所述的第一滑块（2）和第二滑块（3）的结构相同，均为凹槽型，内轮廓尺寸与方形测量杆（1）外截面尺寸相匹配，第一滑块（2）和第二滑块（3）的下端设置有穿过细绳的圆孔（5）和圆孔（6），刻度位于滑块凹槽顶面的同一侧，刻度总长19毫米、20等份，最小分度值为0.95毫米。

4.根据权利要求1所述的二维位移测量装置，其特征在于所述的带有细绳的小吊锤（4），该小吊锤为圆锥形，圆锥倒置上端的圆孔内连接一根细绳，细绳的另一端穿过第一滑块（2）的圆孔（5）后再穿入第二滑块（3）的圆孔（6）打结固定。

5.一种二维位移测量装置的测量方法，其测量步骤如下：

1）将带有刻度的方形测量杆（1）的末端固定于构件或墙体（7）上，保证测量杆顶面水平；

2）将第一滑块（2）和第二滑块（3）凹面朝上依次套在方形测量杆（1）上，并将小吊锤（4）上细绳的另一端分别穿过第一滑块（2）上的圆孔（5）和第二滑块（3）上的圆孔（6）后打结固定；

3）调整第一滑块（2）和第二滑块（3）的位置，使小吊锤（4）下端尖部与被测物件上测点恰好接触，记录此时第一滑块（2）和第二滑块（3）的读数                                               和，读数方式与二十分度游标卡尺相同，精度为0.05毫米；

4）当被测物件位置在方形测量杆(1)轴线所处竖直平面内发生变化时，再次调整第一滑块(2)和第二滑块（3）的位置，使小吊锤(4)下端尖部与被测物件上测点恰好接触，再记录此时第一滑块（2）和第二滑块（3）的读数和；

5）通过计算可知，被测物件的水平位移为，竖向位移为，其中，水平位移和竖向位移分别以远离测量杆末端和竖直向上为正。