[发明专利]测试装置、检测系统及其自动检测的方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试装置、检测系统及其自动检测的方法，特别是涉及一种通过轨道达到检测目的的测试装置、检测系统及其自动检测的方法。 

背景技术

随着科技的进步，现已经发展出一种光学式触控系统光学式触控系统的架构与作动机制为在一背景范围内通过打光模块提供光源以照射在待辨识物上。当辨识物反光后，再经由光学撷取模块接收其反光，之后再产生影像感测信号。因此在光学式触控系统的生产制造流程上，光学撷取模块所能撷取的信号强弱与其分布为光学式触控系统的品质检验的重要参数的一流程。 

请先参考图1A是现有技术的测试装置的架构示意图以及图1B是现有技术的光学撷取模块的架构示意图。 

在现有技术中，是利用图1A所示的测试装置90来测试光学撷取模块80。测试装置90包括底座91、两个固定件92、一测试件93及多个定位孔94。两个固定件92设置于底座91上侧的左、右边角上，各用来固定将使用在光学触控面板左、右边角上的一光学撷取模块80。测试件93为一模拟人类手指的圆柱状物，用以供光学撷取模块80撷取其反光影像而产生反光感测信号。当要进行任一光学撷取模块80的功能测试时，测试人员将测试件93依一定顺序插入不同的定位孔94中，让光学撷取模块80可撷取不同测试点位置的反光感测信号。如此一来，通过呈现在测试软件上各测试点的亮度值是否皆在一预设值之上，即可得知光学撷取模块80对各个位置的物体是否都能正常撷取反光影像。但在现有技术中，必须在每一定位孔94中分别定点测量感测信号。因此会造成在测试时的测试人员必须有技巧地将测试件93不断地在不同的定位孔94间对准插入、取出以及移动至下一个定位孔94位置，如此不但整个测试作业流程繁复，测试时间增加，进一步浪费了不必要的成本，并且又只能做有限的抽样定点检测，而无法完全含盖所有可能的 触控位置的检测。 

有鉴于此，因此需要发明一种新的测试装置、检测系统及其自动检测的方法，以解决现有技术的缺失。 

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种测试装置，其通过轨道达到检测的目的。 

本发明的另一主要目的在于提供一种具有其测试装置检测系统。 

本发明的又一主要目的在于提供一种自动检测的方法。 

为达成上述的目的，本发明的测试装置用以测试光学撷取模块。测试装置包括底座、固定件、测试件及轨道。固定件设置于底座，用以固定光学撷取模块。测试件用以供光学撷取模块撷取影像感测信号。轨道设置于底座，用以供测试件沿着轨道连续移动；当测试件于该轨道上连续移动时，光学撷取模块得以根据测试件的移动位置以撷取得到连续的感测信号曲线。 

本发明的检测系统用以测试光学撷取模块。检测系统包括控制模块以及测试装置。控制模块电连接光学撷取模块。测试装置包括底座、固定件、测试件及轨道。固定件设置于底座上，用以固定光学撷取模块。测试件用以供光学撷取模块撷取影像感测信号。轨道设置于底座，用以供测试件沿着轨道连续移动；当测试件于该轨道上连续移动时，光学撷取模块得以根据测试件的移动位置以撷取得到连续的感测信号曲线，控制模块判断感测信号曲线是否超过设定值。 

本发明的自动检测的方法用于检测系统以测试光学撷取模块。该方法包括以下步骤：提供具有固定件的底座而以固定件夹持光学撷取模块；于底座上提供可供测试件于其上连续移动的轨道；光学撷取模块根据测试件于该轨道上的移动以撷取连续的感测信号曲线；判断连续的感测信号曲线的每一点是否都超过设定值；以及若否，则判断光学撷取模块为异常状况。 

附图说明

图1A是现有技术的测试装置的架构示意图； 

图1B是现有技术的光学撷取模块的架构示意图； 

图2是本发明的检测系统的架构示意图； 

图3A是本发明的测试装置的外观立体图； 

图3B是本发明的测试装置的外观俯视图； 

图4是本发明的检测系统测量得到的感测信号曲线图； 

图5是本发明的自动检测的方法的步骤流程图。 

主要元件符号说明 

现有技术： 

光学撷取模块80 

测试装置90 

底座91 

固定件92 

测试件93 

定位孔94 

本发明： 

检测系统1 

光学撷取模块2 

第一光学撷取模块2a 

第二光学撷取模块2b 

控制模块10 

测试装置20