[发明专利]发光控制装置和发光控制方法有效

专利信息
申请号: 201210147526.3 申请日: 2012-05-11
公开(公告)号: CN102778804A 公开(公告)日: 2012-11-14
发明(设计)人: 吉田大祐 申请(专利权)人: 佳能株式会社
主分类号: G03B15/05 分类号: G03B15/05
代理公司: 北京魏启学律师事务所 11398 代理人: 魏启学
地址: 日本东京都大*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 发光 控制 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种发光控制装置,用于控制发光装置,所述发光控制装置包括:

测光单元,用于获取多个测光区域各自的测光值;

校正单元,用于基于所述多个测光区域中的对象区域的测光值与所述对象区域周边的测光区域的测光值之间的比较结果,校正与所述对象区域的测光值有关的信息,其中,所述比较结果是通过所述测光单元在允许所述发光装置进行预闪光的情况下所获取到的;以及

计算单元,用于基于所述校正单元校正后的与测光值有关的信息,计算所述发光装置的主发光量。

2.根据权利要求1所述的发光控制装置,其特征在于,所述校正单元对所述对象区域的测光值进行校正。

3.根据权利要求2所述的发光控制装置,其特征在于,所述校正单元基于所述对象区域周边的测光区域中、测光值比所述对象区域的测光值小的区域的数量,进行校正以使所述对象区域的测光值增大。

4.根据权利要3所述的发光控制装置,其特征在于,随着所述对象区域周边的测光区域中、测光值比所述对象区域的测光值小的区域的数量增加,所述校正单元进行校正以使所述对象区域的测光值增大。

5.根据权利要求3所述的发光控制装置,其特征在于,所述校正单元基于所述对象区域周边的测光区域中、测光值比所述对象区域的测光值小但与所述对象区域的测光值之差的绝对值不小于第一阈值的区域的数量,进行校正以使所述对象区域的测光值增大。

6.根据权利要求3所述的发光控制装置,其特征在于,所述校正单元基于所述对象区域周边的测光区域中、测光值比所述对象区域的测光值小但与所述对象区域的测光值之差的绝对值不是等于或大于第二阈值的区域的数量,进行校正以使所述对象区域的测光值增大。

7.根据权利要求2所述的发光控制装置,其特征在于,所述校正单元基于所述对象区域周边的测光区域中、测光值比所述对象区域的测光值大的区域的数量,进行校正以使所述对象区域的测光值减小。

8.根据权利要求7所述的发光控制装置,其特征在于,随着所述对象区域周边的测光区域中、测光值比所述对象区域的测光值大的区域的数量增加,所述校正单元进行校正以使所述对象区域的测光值减小。

9.根据权利要求7所述的发光控制装置,其特征在于,所述校正单元基于所述对象区域周边的测光区域中、测光值比所述对象区域的测光值大但与所述对象区域的测光值之差的绝对值不小于第三阈值的区域的数量,进行校正以使所述对象区域的测光值减小。

10.根据权利要求7所述的发光控制装置,其特征在于,所述校正单元基于所述对象区域周边的测光区域中、测光值比所述对象区域的测光值大但与所述对象区域的测光值之差的绝对值不是等于或大于第四阈值的区域的数量,进行校正以使所述对象区域的测光值减小。

11.根据权利要求2所述的发光控制装置,其特征在于,所述校正单元基于所述对象区域周边的测光区域中的测光值比所述对象区域的测光值小的区域的数量、以及所述对象区域周边的测光区域中的测光值比所述对象区域的测光值大的区域的数量,对所述对象区域的测光值进行校正。

12.根据权利要求2所述的发光控制装置,其特征在于,所述发光控制装置是摄像装置,其中,

所述发光控制装置还包括获取单元,所述获取单元用于获取与拍摄镜头的焦距有关的信息,以及

随着所述拍摄镜头的焦距变短,所述校正单元增大所述对象区域的测光值的校正量。

13.根据权利要求1所述的发光控制装置,其特征在于,所述计算单元通过对所述测光单元所获取到的所述多个测光区域的测光值进行加权计算,计算所述发光装置的主发光量,以及

所述校正单元对与所述对象区域的测光值有关的加权系数进行校正。

14.根据权利要求1所述的发光控制装置,其特征在于,所述校正单元通过改变所述多个测光区域中要作为所述对象区域的区域来对与多个测光值有关的信息进行校正,以及

所述计算单元基于所述校正单元所校正后的与所述多个测光值有关的信息来计算所述发光装置的主发光量。

15.一种发光控制方法,用于控制发光装置,所述发光控制方法包括:

进行测光,以获取多个测光区域各自的测光值;以及

基于所述多个测光区域中的对象区域的测光值与所述对象区域周边的测光区域的测光值之间的比较结果,校正与所述对象区域的测光值有关的信息,其中,所述比较结果是通过在允许所述发光装置进行预闪光的情况下进行所述测光的操作所获取到的,

其中,基于校正后的信息来计算所述发光装置的主发光量。

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