[发明专利]原子力显微镜的力示踪方法有效
| 申请号： | 201210146642.3 | 申请日： | 2012-05-11 |
| 公开（公告）号： | CN102662087A | 公开（公告）日： | 2012-09-12 |
| 发明（设计）人： | 王宏达;潘延刚;蒋俊光;单玉萍;蔡明军 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春应用化学研究所 |
| 主分类号： | G01Q60/24 | 分类号： | G01Q60/24;G01Q60/26 |
| 代理公司： | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人： | 张伟 |
| 地址： | 130022 吉林*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 原子 显微镜 力示踪 方法 | ||
1.原子力显微镜的力示踪方法，其特征在于，该方法具有如下步骤：
步骤一、首先，在进行力示踪测量前对AFM探针针尖进行待测分子的修饰，力示踪测量过程中，在反馈调节系统的控制下完成进针，之后关闭反馈调节系统，通过得到的力-距离曲线确定AFM探针和被测物表面接触时AFM探针在Z方向的位置；
步骤二、确定AFM探针和被测物表面接触时AFM探针在Z方向的位置后，AFM探针会回缩至原位，AFM探针针尖修饰有检测物，设定AFM探针和被测物表面接触时的相关参数，开启反馈调节系统，使AFM探针逐渐逼近被测物表面，当AFM探针和被测物表面刚好接触时，关闭反馈调节系统并停止进针，当检测物与被检测物之间有相互作用时微悬臂随即发生偏转；
步骤三、利用数据采集卡采集微悬臂偏转随时间变化关系并输入至电脑进行分析处理。
2.根据权利要求1所述的原子力显微镜的力示踪方法，其特征在于，检测物包括一个单分子、多个单分子或一个纳米粒子。
3.根据权利要求1所述的原子力显微镜的力示踪方法，其特征在于，被测物包括细胞膜，人工磷脂膜，人工纳米孔，能内吞或转运单个分子及颗粒的体系。
4.根据权利要求1所述的原子力显微镜的力示踪方法，其特征在于，反馈调节系统主要由控制器、扫描器、微悬臂、AFM探针、激光检测器组成，扫描器在控制器的控制下按照特定方向伸缩，微悬臂的一端安装在扫描器上，另一端安装有AFM探针。
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