[发明专利]太阳电池结构及其制备方法无效

专利信息
申请号: 201210140619.3 申请日: 2012-05-08
公开(公告)号: CN102709338A 公开(公告)日: 2012-10-03
发明(设计)人: 李炳云;余冬冬;高焱 申请(专利权)人: 常州天合光能有限公司
主分类号: H01L31/0224 分类号: H01L31/0224;H01L31/0216;H01L31/18
代理公司: 常州市维益专利事务所 32211 代理人: 王凌霄
地址: 213031 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 太阳电池 结构 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种太阳电池结构,包括硅片基材(1),在硅片基材(1)的正面是前表面场,前表面场上制作正面电极(3),其特征是:硅片基材(1)通过非晶硅薄膜钝化,在非晶硅薄膜上制作Al背场(7)。

2.根据权利要求1所述的太阳电池结构,其特征是:所述的非晶硅薄膜包括本征氢化非晶硅层(4)和与硅片基体掺杂类型相同的氢化非晶硅层,本征氢化非晶硅层(4)为内层。

3.根据权利要求2所述的太阳电池结构,其特征是:在非晶硅薄膜和Al背场(7)之间设置透明导电薄膜层(6)。

4.根据权利要求1所述的太阳电池结构,其特征是:在正面电极(3)的细栅线上也覆盖透明导电薄膜层(6)。

5.根据权利要求1所述的太阳电池结构,其特征是:所述的前表面场包括低掺杂区域(8)和重掺杂区域(9),在重掺杂区域(9)上制作正面电极(3),在前表面场上覆盖减反膜(2)。

6.根据权利要求3所述的太阳电池结构,其特征是:所述的硅片基材(1)为P型,本征氢化非晶硅层(4)的厚度3-20nm,p型氢化非晶硅层(5)的厚度3-20nm,透明导电薄膜层(6)的厚度75-100nm,Al背场(7)的厚度80-150nm。

7.一种权利要求6所述的太阳电池的制备方法,其特征是:先将P型硅片基材(1)制绒,然后进行扩散工艺,在硅片基材(1)正面形成前表面场,在前表面场的表面沉积减反膜(2),制作正面电极(3);在背面依次沉积3-20nm的本征氢化非晶硅层(4)和3-20nm的p型氢化非晶硅层(5),然后沉积80-100nm的透明导电薄膜层(6),最后蒸镀80-150nm的Al背场(7)。

8.根据权利要求7所述的太阳电池的制备方法,其特征是:通过扩散工艺,在硅片基材(1)正面形成前表面场具体为:通过重扩散;在硅片基材(1)表面沉积70-90nm的SiNx薄膜,然后在非电极区印刷腐蚀浆料形成掩模图案,后用碱溶液或酸溶液腐蚀掉非电极区的硅以形成低掺杂区域8,电极区域为重掺杂区域9,其后使用酸溶液洗去电极区的SiNx薄膜。

9.根据权利要求7所述的太阳电池的制备方法,其特征是:通过掩模在正面电极(3)的细栅线上沉积一层80-100nm的透明导电薄膜层(6)。

10.根据权利要求7或9所述的太阳电池的制备方法,其特征是:沉积透明导电薄膜层(6)的方法为磁控溅射方法。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于常州天合光能有限公司,未经常州天合光能有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210140619.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top