[发明专利]采用光谱修正的逆反射系数测量方法

权利要求书

1.一种采用光谱修正的逆反射系数测量方法，使用逆反射系数测量装置，其特征在于，所述方法包括：

S1，将一标准反射板（4）固定到样品载台（201）上，开启测量装置，调整光路系统的几何条件符合所述标准反射板（4）的赋值要求；

S2，在光源（101）稳定输出预置发光强度的情况下，通过光谱测量仪（302）测试得到所述标准反射板（4）反射光的相对辐射强度光谱分布；

S3，使用软件对人眼明视觉函数V（λ）修正，获得所述标准反射板（4）反射光在一定几何测试角度下的相对发光强度光谱分布；

将所述光源（101）预置输出发光强度和所述标准反射板（4）反射率之积代入归一化发光强度光谱分布，得到所述标准反射板（4）反射光发光强度光谱的绝对强度，所述标准反射板（4）绝对强度与相对强度的反射光谱波长积分之比为所述光谱测量仪（302）的标定系数；

S4，将所述光谱测量仪（302）的标定系数输入到控制/处理模块（5），将待测试样品放在所述样品载台（201）上的指定位置，按照不同的测试几何条件进行测试并通过标定系数修正，按照光阑限定的立体角度计算得到反射光的发光强度，代入公式（1）得到相应几何条件下的逆反射系数，

RA=I·E⊥A---(1),]]>

其中，R_A：样品的逆反射系数，cd·lx-1·m-2；I：样品反射到光探测器的发光强度，cd；E_⊥：光源投射到样品中心的垂直照度，lx；A：样品有效受光面积，m2。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法在步骤S4之后还包括标准A光源修正和逆反射系数测量的步骤：

S5，将测试得到的所述标准反射板（4）反射光发光强度光谱的波长除以所述标准反射板（4）的反射率，得到所述光源（101）输出光的发光强度光谱，在可见光范围内，将标准A光源和所述光源（101）的归一化发光强度光谱分别按照波长进行发光强度积分，积分结果的比值a就是标准A光源在逆反射系数测试中的修正系数：

S6，将所述光谱测量仪（302）得到的反射光发光强度光谱比上所述光源（101）输出的发光强度光谱得到被测样品在不同测试几何条件下的波长反射率；

将步骤S4中不同的测试几何条件下的待测样品波长反射率分别与所述光源（101）和所述标准A光源的归一化发光强度光谱进行积分，所述标准A光源的计算结果乘以修正系数a，即得到标准A光源的逆反射系数。