[发明专利]一种消除残影的图像处理方法及系统有效

专利信息
申请号: 201210138433.4 申请日: 2012-04-28
公开(公告)号: CN103377464A 公开(公告)日: 2013-10-30
发明(设计)人: 曹宇宁 申请(专利权)人: 北京国药恒瑞美联信息技术有限公司
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00
代理公司: 深圳市君胜知识产权代理事务所 44268 代理人: 刘文求
地址: 100176 北京市北京经济*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 消除 图像 处理 方法 系统
【说明书】:

技术领域

发明涉及图像处理技术领域,特别涉及一种消除目标图像的残影的方法及系统。

背景技术

随着现代科学技术的发展,一些先进的技术手段和计算机科学技术正在不断地应用在医学领域,特别是在放射诊断和治疗学科中,计算机图像处理技术正发挥着越来越重要的作用。

现代越来越多的X射线成像系统采用平板探测器,主要有两大技术流派,非晶硅平板和非晶硒平板,共同存在的一个问题就是残影,尤其是非晶硒平板,其残影可能存在数天才会完全消失。许多平板生产厂商通过硬件设计或改善工艺来解决这个问题,但是技术昂贵、复杂,而且仍然无法完全消除残影。

有鉴于此,现有技术还有待改进和提高。

发明内容

本发明的目的在于提供一种消除残影的图像处理方法及系统,以解决现有技术中平面探测器上的图像存在残影的问题。

为了达到上述目的,本发明采取了以下技术方案:

一种消除残影的图像处理方法,其中,所述方法包括以下步骤:

A1、根据预定的曝光时间采集参考图像;

A2、对参考图像进行降噪处理,将降噪后的参考图像变换到梯度域,得到参考图像梯度域;

A3、根据预定的曝光时间采集目标图像;

A4、对目标图像进行降噪处理,将降噪后的目标图像变换到梯度域,得到目标图像梯度域;

A5、对参考图像梯度域和目标图像梯度域进行差分运算,得到最终图像梯度域;

A6、根据所述最终图像梯度域获取最终图像。

所述的消除残影的图像处理方法,其中,所述步骤A2中对参考图像进行降噪处理时,其具体方法如下:

I(m,n)=1Σm-2m+2Σn-2n+2|I(i,j)-I(m,n)||I(i,j)-I(m,n)|I(i,j);]]>

其中,I’(m,n)是参考图像上待处理的像素点,I(i,j)是I’(m,n)周围5×5邻域内的像素点,m、n、i和j均为自然数。

所述的消除残影的图像处理方法,其中,所述步骤A2中将降噪后的参考图像变换到参考图像梯度域,采用如下算法:

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