[发明专利]LED灯具生产老化测试方法及其老化测试装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种LED灯具生产老化测试方法及其老化测试装置。

背景技术

LED灯具生产厂家为确保其生产的LED灯具产品质量，在生产组装完毕之后，一般会对全部产品进行48-72小时的老化点灯测试。在些测试时间内，持续点亮的产品被判为合格产品，这部分产品在老化完成之后再进行包装入库作业。这种检测方法存在如下几个问题，一是进行48-72小时的老化点灯测试，需要花费大量的老化电费，以一个每天平均出货10000盏为例，设每盏LED灯20W，其老化时间以48小时，电价以每度1元人民币计算，每天仅老化的所耗电费就为人民币9600元，如果以72小时计算，则每天老化的所耗电费为人民币14400元；二是需要很大的测试厂地及相当多的测试设备，还是以上述工厂的产品为例，如果以48小时测试，则在测试过程中有20000LED灯在测试途中，如果以72小时测试，则在测试过程中有30000 LED灯在测试途中，这就需要很大的测试厂地和很多的相关设备；三是这种测试方法，其测试的结果只是求得了48-72小时亮灯的确认，而无法科学化的确保后续产品质量，因此，用这种方法测试后出厂的产品，其返修率还是较高的，这又增加了工厂的维修成本。 

发明内容

为了克服上述问题，本发明向社会提供一种可以快速准确地判断LED灯具是否合格的LED灯具生产老化测试方法。

本发明的另一个目的是提供一种实现上述方法的老化测试装置。

本发明的技术方案是提供一种LED灯具生产老化测试方法, 包括如下步骤，

1.   选取LED灯具内的温度最高测试点；

2.   选取LED灯具散热外壳外面的温度最低测试点；

3.   将测量高温的温度测试仪的温度传感器设置于温度最高测试点和将测量低温的温度测试仪的温度传感器设置于温度最低测试点；

4.给LED灯通电，打开温度测试仪，分别对温度最高测试点和温度最低测试点的温度进行测试，并间隔预定时间分别对所测试的温度值进行记录；当记录到温度最高测试点及最低测试点的温度的当前测试值与前一测试值的变化量的绝对值在预定百分比之内,且持续预定时间以上,即视为LED灯具已达到热平衡状态，将最后一次记录的最高温度值或最后预定次数记录的最高温度平均值作为最高稳定温度值记录;将最后一次记录的最低温度值或最后预定次数记录的最低温度平均值作为最低稳定温度值记录；用最高稳定温度值减去最低稳定温度值得出测量温差值；

5.   将测量温差值与标准温差进行比较，如果测量温差值落在所述标准温差值范围内，则产品判为合格，否则，就判为不合格。

作为对本发明的改进，所述间隔预定时间是1-5秒。

本发明还提供一种老化测试装置，包括

-高温测试仪，用于LED灯具内的温度最高测试点的温度，并间隔预定时间记录高温测量值；

-低温测试仪，用于LED灯具散热外壳外的温度最低测试点的温度，并间隔预定时间记录低温测量值；

-控制模块，所述控制模块按下述程式工作：

分别对温度最高测试点和温度最低测试点的温度进行测试，并间隔预定时间分别对所测试的温度值进行记录；当记录到温度最高测试点及最低测试点的温度的当前测试值与前一测试值的变化量的绝对值在预定百分比之内,且持续预定时间以上,即视为LED灯具已达到热平衡状态，将最后一次记录的最高温度值或最后预定次数记录的最高温度平均值作为最高稳定温度值记录;将最后一次记录的最低温度值或最后预定次数记录的最低温度平均值作为最低稳定温度值记录；用最高稳定温度值减去最低稳定温度值得出测量温差值；将测量温差值与标准温差进行比较，如果测量温差值落在所述标准温差值范围内，则产品判为合格，否则，就判为不合格。

作为对本发明老化测试装置的改进，还包括执行机构，所述执行机构根据控制模块的判断结果，分别给LED灯具打上合格或不合格标记。

本发明具有如下优点：一是大大降低老化成本，使用本方法进行老化测度，根据LED产品类型的不同，一般只需要1-3个小时，就可以测出测量温差值，可节省测试电费97%-99%；二是可以大大地减少测试厂地及减少测试设备；三是，本方法测试过程中剔除了不合格产品，可以减少返修率。

总而言之，本发明乃采用科学化的方法及技术，以LED散热技术的材料特性，定点定时的区间测试，同时确保LED灯具产品质量及大幅降低LEＤ灯具产品的老化成本。

附图说明

图1是本发明一种测试方法的方框结构示意图。

图2是本发明一种测试装置的方框结构示意图。