[发明专利]薄膜检测方法及检测装置

说明书

技术领域

本发明有关于一种检测方法及检测装置，特别是指一种薄膜检测方法及检测装置。

背景技术

参阅图1，为现有贴附于显示面板(图未示)的相位延迟膜900，主要功能为产生3D影像。该相位延迟膜900包含复数个第一相位显示区域910及复数个第二相位显示区域920，该复数个第一相位显示区域910及该复数个第二相位显示区域920相互平行且间隔排列。在实际应用中，由于相位延迟膜900会受其高分子膜本身胀缩的特性，导致第一相位显示区域910及第二相位显示区域920的宽度Dpixel产生改变，而无法准确对应面板上的像素，进而影响影像的3D效果。

然而，现今常见的检测方法是测量相位延迟膜900的总长度Dtotal，接着计算相位延迟膜900所具有第一相位显示区域910及第二相位显示区域920的数量，最后将相位延迟膜的总长度Dtotal除以总相位显示区域的数量，即可得到各相位显示区域的平均宽度Dpixel(average)。并以Dpixel(average)是否介于预定范围内，进而预估相位延迟膜900于面板的表现，但此检测方法并无法得知该相位延迟膜900中各个相位显示区域的宽度Dpixel数据，因此无法准确预估该相位延迟膜900上各相位显示区域于显示面板上的3D效果。

发明内容

因此，鉴于现有技术的不足，本发明提供一种可更精确检测待测薄膜的均匀度的薄膜检测方法及检测装置。

根据本发明的目的之一提出一种薄膜检测方法，用于检测贴附于显示面板的待测薄膜，该薄膜检测方法包含以下步骤：(A)读取待测薄膜的参考位置；(B)于该待测薄膜对应该显示面板的像素排列方向上以固定的间隔距离撷取多张检测影像；(C)计算该多张检测影像中对应该参考位置的校准位置与该参考位置的距离差，并对应产生多个偏移值；及(D)输出该多个偏移值。

作为可选的技术方案，该步骤(D)是将处理单元所产生的所有偏移值以图形化的方式输出。

作为可选的技术方案，该待测薄膜包括复数个相互平行且间隔排列的第一相位显示区域及第二相位显示区域，该参考位置的起始点位于其中一第一相位显示区域及其邻近的第二相位显示区域的交界位置。

作为可选的技术方案，该参考位置位于各该检测影像的中心位置。

作为可选的技术方案，该校准位置为位于各该检测影像中间区域的第一相位显示区域与第二相位显示区域的交界位置。

根据本发明的另一目的提出一种薄膜检测方法，用于检测贴附于显示面板的待测薄膜，该薄膜检测方法包含以下步骤：(A)读取该待测薄膜的参考影像；(B)于该待测薄膜对应该显示面板的像素排列方向上以固定的间隔距离撷取多张检测影像；(C)将该多张检测影像分别与该参考影像相减，以产生多个差值影像；(D)根据该多个差值影像，产生对应该待测薄膜的均匀度的偏移量；及(E)输出该偏移量。

作为可选的技术方案，该步骤(A)是于该待测薄膜上撷取该参考影像。

作为可选的技术方案，若该差值影像的灰阶值高于该预设值，则视该差值影像为全白画面，若该差值影像的灰阶值低于该预设值，则视该差值影像为全黑画面。

作为可选的技术方案，该步骤(D)包括以下子步骤：(D-1)计算该多个差值影像的灰阶值高于预设值的数量；(D-2)将所计算的灰阶值高于预设值的差值影像的数量与该多个检测影像的解析度相除，以求得该多个检测影像中灰阶值高于该预设值的比例；及(D-3)根据该多个检测影像中灰阶值高于该预设值的比例，产生对应该比例的偏移量。

根据本发明的另一目的提出一种检测装置，用于检测贴附于显示面板的待测薄膜，该检测装置包含：储存单元，储存该待测薄膜的参考位置；摄像单元，用以于该待测薄膜对应该显示面板的像素排列方向上以固定的间隔距离撷取多张检测影像；处理单元，耦接于该储存单元及该摄像单元，该处理单元从该储存单元中读取该参考位置，并计算该多个检测影像中对应该参考位置的校准位置与该参考位置的距离差而对应产生多个偏移值；及输出单元，耦接于该处理单元，用以输出该多个偏移值。

作为可选的技术方案，该输出单元将该处理单元所产生的所有偏移值以图形化的方式输出。

作为可选的技术方案，该输出单元输出该多个偏移值至检测电路，该检测电路将该多个偏移值分别与标准差值进行比较，以检测该待测薄膜。

作为可选的技术方案，该待测薄膜包括复数个相互平行且间隔排列的第一相位显示区域及第二相位显示区域，该参考位置的起始点位于其中一第一相位显示区域及其邻近的第二相位显示区域的交界位置。