[发明专利]一种基于原子力显微术的石墨烯晶向快速检测方法有效
| 申请号: | 201210128565.9 | 申请日: | 2012-04-27 |
| 公开(公告)号: | CN103376339A | 公开(公告)日: | 2013-10-30 |
| 发明(设计)人: | 刘连庆;张嵛;席宁;王越超;董再励 | 申请(专利权)人: | 中国科学院沈阳自动化研究所 |
| 主分类号: | G01Q60/24 | 分类号: | G01Q60/24 |
| 代理公司: | 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 | 代理人: | 周秀梅;许宗富 |
| 地址: | 110016 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 基于 原子 显微 石墨 快速 检测 方法 | ||
1.一种基于原子力显微术的石墨烯晶向快速检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
利用原子力显微镜在石墨烯样品上任意获取一条摩擦力扫描线,得到该扫描线的摩擦力信号;
对所述扫描线数据进行快速傅立叶变换,依据功率谱设计离散小波变换;
对所述扫描线数据小波变换进行分解,提取相关频域的摩擦力信号的数据;
对小波变换后的摩擦力数据进行快速傅立叶变换,获得摩擦力功率谱分布;
根据功率谱分布的不同进行石墨烯不同晶向的判别。
2.根据权利要求1所述的一种基于原子力显微术的石墨烯晶向快速检测方法,其特征在于,所述摩擦力扫描线不小于5nm。
3.根据权利要求1所述的一种基于原子力显微术的石墨烯晶向快速检测方法,
其特征在于,所述小波变换为
其中,x()是原子力显微镜臂梁获取的摩擦力信号的采样信号;ψ*()是用于逼近采样信号的小波基函数;a为伸缩因子,表示与频率相关的伸缩,用于逼近x();x为被分析信号;n为采样点求和系数;i表示时间平移因子,表示在所有时间内进行变换;Ts为采样间隔,即相邻两次采样间的时间间隔;DWTx(iTs,a)表示离散小波变换,是连续小波变换的采样形式。
4.根据权利要求1所述的一种基于原子力显微术的石墨烯晶向快速检测方法,
其特征在于,所述快速傅立叶变换为
其中,x()是小波变换后的摩擦力信号的采样信号,n为采样信号的长度,即表示采样点个数,k为求和参数。
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