[发明专利]一种内存检测方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及计算机系统的检测技术，具体涉及一种内存检测方法及装置。

背景技术

随着当前移动存储技术的快速发展和移动存储市场的高速扩大，各种存储器的用量迅速增长，市场的需求催生了一大批各种存储器的研发、生产、应用企业。为保证芯片长期可靠的工作，这些企业需要在产品出厂前对存储器进行高速和细致地测试，因此，高效的存储器测试算法的研究就显得十分必要。

不论哪种类型存储器的测试，都不是一个十分简单的问题，不能只将存储器内部每个存储单元依次测试一遍就得出结论，这是因为每一个存储单元的改变都有可能影响存储器内部其他单元的变化，特别是会引起相邻单元的变化，这种情况又是常常发生的。

目前常见的内存压力测试方法能遍历内存空间，但是测试手段单一，不能检测出内存的这种相关连带错误，即一个单元内容改变是否会引起相邻单元的变化。在激烈竞争的现状在下我们不单单要关心存储器的功能，更多的时候我们是在相同的功能下比拼产品的稳定性能。这样对存储器来说通过压力测试来检测其稳定性就显现出其重要性了。

发明内容

本发明主要解决的技术问题是，提供一种内存检测方法和装置，解决了在对内存进行测试时，无法同时检测出内存中相关连带错误的问题，保证存储器的性能。

本发明提供一种内存检测方法，具体包括以下步骤：

在内存空间中选取一存储单元作为第一地址空间；

修改第一地址空间的存储内容；

选取与第一地址空间相邻的存储单元作为第二地址空间；

检测第二地址空间的内容是否为原存储内容；

若是，按照预设规则重新选取存储单元作为第一地址空间，直至所有存储单元都被选取作为第一地址空间。

进一步地，修改第一地址空间的存储内容之前，还包括：检测第一地址空间的内容是否为原存储内容，若是，则继续执行步骤。

进一步地，在检测第一地址空间的内容是否为原存储内容之前，还包括：在第一地址空间中预置第一测试数据。

进一步地，修改第一地址空间的存储内容，具体为：将第一地址空间的存储内容修改为所述存储内容所对应的反码形式。

进一步地，在内存空间中选取一存储单元作为第一地址空间，具体为：选取最低位地址的存储单元作为第一地址空间。

进一步地，按照预设规则重新选取存储单元作为第一地址空间，具体为：选取在增加存储单元的地址值后所对应的存储单元作为第一地址空间。

本发明还提供了一种内存检测装置，具体包括了：

地址空间选取模块，用于在内存空间中选取一存储单元作为第一地址空间，之后按照预设规则从内存空间中选取第一地址空间相邻的存储单元作为第二地址空间，并将选取结果发送信息至内容读取模块；

内容检测模块，用于检测所述第二地址空间的内容是否为原存储内容，若是，则发送信息至地址空间选取模块；

内容修改模块，用于修改所述第一地址空间的存储内容，并发送信息至地址空间选取模块。

进一步地，内容检测模块还用于：检测第一地址空间的内容是否为原存储内容，若是，则发送信息至内容修改模块。

进一步地，内存检测装置还包括：内容预置模块，用于在第一地址空间中预置第一测试数据。

进一步地，修改第一地址空间的存储内容，具体为：将第一地址空间的存储内容修改为所述存储内容所对应的反码形式。

进一步地，所述的在内存空间中选取一存储单元作为第一地址空间，具体为：选取最低位地址的存储单元作为第一地址空间。

更进一步地，按照预设规则重新选取存储单元作为第一地址空间，具体为：选取在增加存储单元的地址值后所对应的存储单元作为第一地址空间。

通过本发明的技术方案，当进行内存检测时，通过简单的内容修改、回退读取验证等这几个步骤循环遍历实现了在存储器压力测试中检测相关连带错误的功能，从而保证了存储器的性能。

附图说明

图1为本发明中内存检测方法的一种实施例的流程图；

图2为本发明中内存检测方法的另一种实施例的流程图；

图3为本发明中内存检测装置的一种实施例的结构示意图。

具体实施方式

下面通过具体实施方式结合附图对本发明作进一步详细说明。