[发明专利]一种AD采样值校正方法及系统

说明书

技术领域

本发明属于电子技术领域，尤其涉及一种AD采样值校正方法及系统。

背景技术

AD转换就是模数转换，就是把模拟信号转换成数字信号，模拟信号可以是电压、电流等电信号，也可以是压力、温度、湿度、位移、声音等非电信号，但在A/D转换前，输入到A/D转换器的输入信号必须经各种传感器把各种物理量转换成电压信号。

AD采样的精度对一个控制系统的性能有着至关重要的作用，在实际应用中，由于技术等因数的制约，通常主控制芯片采样的AD采样值与理论值存在一定的偏差，AD采样值与理论值存在三种关系：AD采样值整体偏小于理论值、AD采样值整体偏大于理论值、AD采样值在理论值附近上下波动，这种AD采样偏差会使后续处理过程也产生偏差，多级偏差的累计会影响处理结果的精度，因此，为了获得更高精度的AD值，需要对采样的AD采样值进行处理。

发明内容

本发明实施例的目的在于提供一种AD采样值校正方法及系统，旨在解决现有技术AD采样偏差会使后续处理过程也产生偏差，多级偏差的累计会影响处理结果的精度的问题。

为了实现上述目的，本发明实施例提供如下技术方案：

本发明实施例是这样实现的，一种AD采样值校正方法，将模拟输入电压值分成多个采样区间，根据所述多个采样区间，将理论AD采样直线和实际AD采样曲线划分成多段，假设每段内的实际AD采样曲线为线性直线，所述方法包括：

获取每一采样区间内的模拟输入电压值与理论AD采样值的对应关系，及模拟输入电压值与实际AD采样值的对应关系；

根据所述每一采样区间内的模拟输入电压值与理论AD采样值的对应关系，及模拟输入电压值与实际AD采样值的对应关系，生成每一采样区间的实际AD采样值与理论AD采样值的补偿关系；

根据所述补偿关系，对与所述补偿关系对应的实际AD采样曲线的实际AD采样值进行校正。

本发明实施例还提供了一种AD采样值校正系统，将模拟输入电压值分成多个采样区间，根据所述多个采样区间，将理论AD采样直线和实际AD采样曲线划分成多段，假设每段内的实际AD采样曲线为线性直线，所述系统包括：

第一获取单元，用于获取每一采样区间内的模拟输入电压值与理论AD采样值的对应关系；

第二获取单元，用于获取每一采样区间内的模拟输入电压值与实际AD采样值的对应关系；

生成单元，用于根据所述每一采样区间内的模拟输入电压值与理论AD采样值的对应关系，及模拟输入电压值与实际AD采样值的对应关系，生成每一采样区间的实际AD采样值与理论AD采样值的补偿关系；

校正单元，用于根据所述补偿关系，对与所述补偿关系对应的实际AD采样曲线的实际AD采样值进行校正。

本发明实施例还提供了一种电子设备，所述电子设备包括所述AD采样值校正系统。

本发明实施例与现有技术相比，有益效果在于：通过将理论AD采样直线和实际AD采样曲线划分成多段，假设每段内的实际AD采样曲线为线性直线，根据所述每一采样区间内的模拟输入电压值与理论AD采样值的对应关系，及模拟输入电压值与实际AD采样值的对应关系，生成每一采样区间的实际AD采样值与理论AD采样值的补偿关系，根据所述补偿关系，对与所述补偿关系对应的实际AD采样曲线的实际AD采样值进行校正，实现可以得到精度较高的AD采样值，很好的改善了AD采样精度，从而得到精度较高的后续处理结果。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明实施例一提供的AD采样值校正方法的实现的流程图；

图2是本发明实施例二提供的AD采样值校正方法的模拟输入电压值与AD采样值的对应关系的示意图；

图3是本发明实施例二提供的模拟输入电压值与实际AD采样值的对应关系的示意图；

图4是本发明实施例二提供的实际AD采样值与理论AD采样值对应关系的示意图；

图5是本发明实施例二提供的实际AD采样值与校准输出实际AD采样值的对应关系的示意图；

图6是本发明实施例三提供的本发明实施例三提供的AD采样值校正系统的结构图。

具体实施方式