[发明专利]监控工件加工进程的监控装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种监控装置，尤其涉及一种监控工件加工进程的监控装置。

背景技术

光学膜片成型技术中，对于具有周期性光学结构如应用于显示器的增亮膜(Brightness Enhancement Film)、3D显示器的柱状透镜数组(Lenticular lens array)等，常使用滚筒加工压印成型技术(Roller to Roller)大量制作。滚筒上开设有微结构压印图案。微结构压印图案由多个密集，等间距且平行设置的，具有周期性的图案单元构成。滚筒上的微结构压印图案将转印到光学膜片的光学面上。因此若该滚筒上的微结构压印图案的周期(即相邻两图案单元的间距)控制不好，会严重影响到光学膜片的光学品质，降低光学膜片的产品良率。

发明内容

有鉴于此，有必要提供一种监控工件加工进程的监控装置，其能够在一个加工装置在一个工件上加工微结构压印图案的过程中进行监控，以提高工件的微结构压印图案的加工精度。

一种监控工件加工进程的监控装置，用于监控一个加工装置在一个工件的表面加工出周期性的微结构压印图案的过程中，是否出现偏位，该微结构压印图案能够形成光栅。该监控装置包括一个光源、一个屏幕、一个相机模组及一个处理器。该光源能够随该加工装置一起移动，使得该光源与该加工装置相对静止。该光源用于以固定的入射角度发射出一束入射光到该微结构压印图案上，被衍射及干涉而形成多束出射光。该多束出射光照射到该屏幕上，得到多个与该多束出射光一一对应的待比较光点，该相机模组用于拍摄该多个待比较光点，得到一个待比较图像，该待比较图像包括与该多个待比较光点对应的多个待比较光点图像，该处理器内存储有一个标准图像，该标准图像包括多个标准光点图像，该处理器用于比较该多个待比较光点图像是否与对应的标准光点图像重合，若重合，则判断该加工装置的移动没有发生偏位，若不重合，则判断该加工装置的移动出现了偏位。该处理器还用于计算出该加工装置的偏位位移。该处理器用于与该加工装置电连接，并根据该处理器的计算结果调整该加工装置的移动。

本发明的监控装置，通过该光源发射出的入射光照射在微结构压印图案上，被衍射及干涉形成多条出射光，该多条出射光照射在该屏幕上所形成的多个待比较光点，通过该相机模组拍摄该多个待比较光点，得到待比较图像，然后比较至少一阶待比较光点图像是否与同阶的标准光点图像重合，以判断该刀具的加工是否出现偏位，同时还计算出偏位位移，使得该加工装置能够实时对偏位进行补偿，从而有效提高该加工装置的加工精度。

附图说明

图1是本发明较佳实施方式的监控工件加工进程的监控装置的结构示意图。

图2是一个工件被加工后沿其自身旋转轴方向的剖视图。

图3是图1的监控工件加工进程的监控装置的光路示意图。

图4是图1的监控工件加工进程的监控装置的处理器的模块图。

主要元件符号说明