[发明专利]冲击装置及具有该冲击装置的冲击总成

说明书

技术领域

本发明系关于一种冲击装置及使用该冲击装置的冲击总成；特别是涉及一种直接施以一冲击力于一冲击平台或欲冲击物品的冲击装置。

背景技术

随着各式各样的电子产品问世，因应生产的产品规格以及工业标准也更趋严谨。其中，关于物件本身的可靠度测试更是电子产品出厂前不可避免的测试流程。可靠度测试不但可用以预估电子产品的使用年限、可以承受的运输伤害等，更可于研发阶段察觉产品结构上的缺点。在这当中较常被使用于可靠度测试的方式，便为冲击测试。

已知所采用的冲击测试装置，多是将冲击测试装置的本体直接固锁于冲击平台底部，继而将待测物如电子产品固定于冲击平台上，以进行相关冲击测试的流程。

如图1所示，已知用以进行冲击测试的一冲击测试装置1包含一冲击平台11以及具有特定倾斜角度的一冲击单元12。其中，冲击单元12包含一顶持部121、一锁固装置123及一冲击部125，冲击单元12系利用锁固装置123固定于一冲击平台11的底部111，其中顶持部121系与锁固装置123一体成型，而锁固装置123系借由其上所设置的一凸出部1231与冲击平台11上的一卡扣槽113相搭配，以协助将冲击单元12固定于冲击平台11上。接着，当将一待测物13设置于冲击平台11上后，冲击部125便可进行一往复式运动，从而带动冲击平台11给予待测物13一特定方向的冲击力。

由于上述的冲击测试装置1系锁固于冲击平台11，故其系直接接触于冲击平台11，且得以朝冲击平台11的底部111施以一冲击力。当冲击部125通以电流而产生一往复式运动时，将同步推动顶持部121，从而使冲击平台11产生平行于一水平面的一同步运动。于此同时，整个冲击单元12亦随着冲击平台11的同步运动而作动，而非独立于冲击平台11，故将使测试结果出现无法评估的误差，同时亦失去其精确性。

综上所述，如何提供一种独立于冲击平台的冲击测试装置，使其于冲击测试过程中无法随着冲击平台连动，进而避免冲击力道的分散，以提升测试结果的精确性，便为此业界亟需努力的目标。

发明内容

本发明的一目的在于提供一种可避免冲击力道分散的冲击装置，以及与包含该冲击装置的冲击总成，用以提升冲击测试结果的精确性。

为达上述目的，本发明的一冲击装置系设置于一平台以进行一冲击测试，冲击装置包含：一壳体、一冲击单元及一承载部。壳体具有一开口及与开口相对的一第一斜面，以及设置于开口及第一斜面间的一腔室。冲击单元系设置于壳体的腔室，并进行一往复式运动以对平台提供一冲击力。承载部系设置于平台的下侧，用以承载壳体。其中，当冲击装置进行往复式运动时，冲击装置的一部分适可外露于壳体的开口，以直接冲击平台并相应产生冲击力。

为了让上述的目的、技术特征和优点能够更为本领域的人士所知悉并应用，下文系以本发明的数个较佳实施例以及附图进行详细的说明。

附图说明

图1系为已知冲击测试装置的示意图；

图2系为本发明的冲击总成的示意图；

图3系为本发明的冲击装置的示意图；

图4系为本发明的冲击装置于移动时的示意图；以及

图5系为本发明的冲击装置于移动时的另一示意图。

【主要元件符号说明】

1    冲击测试装置

11   冲击平台

111    底部

113    卡扣槽

12     冲击单元

121    顶持部

123    锁固装置

1231   凸出部

125    冲击部

13     待测物

2      冲击总成

21     平台

211    底部

22     冲击装置

221    壳体

2211   开口

2211a  第二斜面

2213   第一斜面

2215   吸震部

2217   腔室

2217a  底部

223    冲击单元

225    承载部

2251   螺丝

3      待测物

A箭头方向

A’箭头方向

d₁原始长度

d₂延展长度

具体实施方式