[发明专利]测试装置及对应的测试方法

权利要求书

1.一种测试装置，其特征在于，包括：

信号输入装置、存储器测试装置、D/A转换器、A/D转换器、测试单元，所述存储器测试装置包括第一存储器单元和第二存储器单元，所述D/A转换器、A/D转换器其中一个为标准转换器，另一个为待测试转换器；

所述信号输入装置用于产生数字向量，并将所述数字向量存储到存储器测试装置中的第一存储器单元中；

所述存储器测试装置将所述第一存储器单元中的数字向量通过D/A转换器转换为模拟信号，并将所述模拟信号发送给A/D转换器；

所述A/D转换器将所述模拟信号转换成数字信号，并存储在所述存储器测试装置的第二存储器单元中；

所述测试单元对第二存储器单元中的数字信号进行处理测试出待测试转换器的性能参数，将所述待测试转换器的性能参数与标准的测量参数进行比较，判断待测试转换器是否符合技术要求。

2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，当所述D/A转换器为标准转换器，所述A/D转换器为待测试转换器，所述D/A转换器的精度高于所述A/D转换器的精度。

3.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，当所述A/D转换器为标准转换器，所述D/A转换器为待测试转换器，所述A/D转换器的精度高于所述D/A转换器的精度。

4.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，还包括：位于所述D/A转换器、A/D转换器之间的低通滤波器，将所述D/A转换器转换后的模拟信号进行滤波。

5.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，还包括：位于所述D/A转换器、A/D转换器之间的运算放大电路，提高D/A转换器的增益。

6.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述信号输入装置为任意波形产生器，所述任意波形产生器包括信号图形产生模块和直接数字频率合成模块。

7.如权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述信号输入装置还包括信号格式转换模块，用于将直接数字频率合成模块产生的数字信号的格式转换成存储器测试装置内部的数据格式。

8.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述存储器测试装置为卡罗斯存储器测试装置。

9.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述性能参数包括静态性能参数和动态性能参数，当所述静态性能参数和动态性能参数满足技术要求，表明所述待测试转换器符合技术要求；当所述静态性能参数或动态性能参数不满足技术要求，表明所述待测试转换器不符合技术要求。

10.如权利要求9所述的测试装置，其特征在于，所述动态性能参数包括信号-噪声比，信号-噪声加失真，总谐波失真，以及无杂散动态范围。

11.如权利要求10所述的测试装置，其特征在于，当待测试转换器为12位，所述待测试转换器的信号-噪声比，信号-噪声加失真比的标准的测量参数范围为大于60dB，所述总谐波失真的标准的测量参数范围为小于等于-70dB，所述无杂散动态范围的标准的测量参数范围为大于等于55dB。

12.如权利要求9所述的测试装置，其特征在于，所述静态性能参数包括积分非线性误差、微分非线性误差、失调误差、增益误差。

13.如权利要求12所述的测试装置，其特征在于，当待检测转换器为12位，所述待测试转换器的积分非线性误差、微分非线性误差的标准的测量参数范围为小于等于1LSB，所述增益误差、失调误差的标准的测量参数范围为小于等于2mV。

14.一种采用如权利要求1所述的测试装置的测试方法，其特征在于，包括：

利用信号输入装置产生数字向量，并将所述数字向量存储到存储器测试装置中的第一存储器单元中；

将所述第一存储器单元中的数字向量通过所述D/A转换器转换为模拟信号，并将所述模拟信号发送给A/D转换器；

利用所述A/D转换器将所述模拟信号转换成数字信号，并存储在所述存储器测试装置的第二存储器单元中；

利用所述测试单元对第二存储器单元中的数字信息进行处理测试出器件待测试转换器的性能参数，将所述待测试转换器的性能参数与标准的测量参数进行比较，判断待测试转换器是否符合技术要求。