[发明专利]一种预对准装置及预对准方法有效

专利信息
申请号: 201210118779.8 申请日: 2012-04-20
公开(公告)号: CN103376673A 公开(公告)日: 2013-10-30
发明(设计)人: 郭鹏;王邵玉;马喜宝 申请(专利权)人: 上海微电子装备有限公司;上海微高精密机械工程有限公司
主分类号: G03F9/00 分类号: G03F9/00;G03F7/20
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 屈蘅;李时云
地址: 201203 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 对准 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种预对准装置,用于实现不同尺寸基底的定心和定向,所述基底具有缺口或平边,其特征在于,所述预对准装置包括:

吸盘,用于承载和固定所述基底,并能带动基底旋转;

一对卡盘,具有与基底相匹配的尺寸,对称设置于吸盘的两侧,且与基底的高度位置相对应,通过所述一对卡盘夹紧基底并使一对卡盘的中心与吸盘的中心重合实现基底的定心;

光电检测装置,位于吸盘的上方,且所述光电检测装置的位置可调整以使基底边缘位于光电检测装置的视场范围内,通过光电检测装置检测基底上缺口或平边的位置并将缺口或平边转动至指定位置实现基底的定向。

2.如权利要求1所述的预对准装置,其特征在于,每个卡盘上分别设有两个定位轴承,使得当所述一对卡盘夹紧基底时,四个定位轴承同时与基底边缘相接触,通过使四个定位轴承构成的中心与吸盘的中心重合实现基底的定心。

3.如权利要求1所述的预对准装置,其特征在于,所述预对准装置还包括与光电检测装置相连的一驱动装置,所述驱动装置用于调整所述光电检测装置的位置以使基底边缘位于光电检测装置的视场范围内。

4.如权利要求3所述的预对准装置,其特征在于,所述驱动装置包括光电检测装置固定机构,导轨和锁紧机构,所述光电检测装置固定机构的一端与光电检测装置固定连接,另一端可沿所述导轨移动,所述锁紧机构用于锁定所述光电检测装置固定机构的位置。

5.如权利要求1所述的预对准装置,其特征在于,所述预对准装置还包括一旋转台用于承载所述吸盘,所述吸盘在旋转台的带动下实现旋转。

6.如权利要求5所述的预对准装置,其特征在于,所述预对准装置还包括微动平台,所述微动平台位于所述旋转台的下方;所述微动平台的高度可调整以使基底边缘位于所述光电检测装置的景深范围内。

7.一种利用如权利要求1至6中任一项所述的预对准装置的预对准方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤1,将基底置于吸盘上,在预对准装置上安装与基底尺寸相匹配的卡盘;

步骤2,判断卡盘的尺寸和光电检测装置的位置是否与基底尺寸相对应;若是,则执行步骤3;若否,则报错检测配置是否正确,预对准结束;

步骤3,判断基底是否处于光电检测装置的焦面位置;若是,则执行步骤4;若否,则调整吸盘的高度,然后重复步骤3;

步骤4,卡盘夹紧基底以对基底进行定心;

步骤5,卡盘缩回,并将基底固定在吸盘上;

步骤6,吸盘带动基底旋转一圈,旋转的同时,光电检测装置采集基底边缘数据及缺口位置或平边的数量和位置;

步骤7,使卡盘避开缺口或平边的位置,并使卡盘再次夹紧基底以对基底进行定心;

步骤8,光电检测装置对基底进行定向。

8.如权利要求7所述的预对准方法,其特征在于,步骤7具体包括:

步骤7.1,判断基底是否具有缺口或平边以及平边的数量;

若基底具有缺口或单一平边,则使卡盘避开缺口或平边的位置,并使卡盘夹紧基底以对基底进行定心,然后执行步骤8;

若基底具有双平边,则执行步骤7.2;

步骤7.2,在基底旋转一圈的过程中,通过光电检测装置标识在基底第一平边边缘的第一点为M点,在基底第二平边边缘的第二点为N点,和基底的中心为O点;

步骤7.3,根据∠MON的大小,将基底位于M点处的第一平边旋转至光电检测装置下方或者将∠MON的角平分线与基底边缘的交点旋转至光电检测装置下方,以使卡盘避开平边的位置;

步骤7.4,卡盘夹紧基底以对基底进行定心,然后执行步骤8。

9.如权利要求7所述的预对准方法,其特征在于,步骤8之后还包括步骤:计算基底中心和吸盘中心的偏差,若偏差在允许范围之内,则预对准动作完成;若偏差超过误差范围,则重新调整卡盘位置,然后重复步骤3。

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